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講演抄録/キーワード
講演名 2015-12-17 09:40
40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
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文献情報 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-63, pp. 1-6, 2015年12月.
資料番号 ICD2015-63 
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 ICD CPSY  
開催期間 2015-12-17 - 2015-12-18 
開催地(和) 京都工芸繊維大学 
開催地(英) Kyoto Institute of Technology 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2015-12-ICD-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) RTN Modeling of Ring Oscillators by a Bimodal Defect-Centric Behavior in a 40 nm process 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大島 梓 / Azusa Oshima / オオシマ アズサ
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Pieter Weckx / Pieter Weckx /
第2著者 所属(和/英) IMEC Leuven, Belgium, (略称: IMEC)
IMEC Leuven, Belgium, (略称: IMEC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Ben Kaczer / Ben Kaczer /
第3著者 所属(和/英) IMEC Leuven, Belgium, (略称: IMEC)
IMEC Leuven, Belgium, (略称: IMEC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 高士 / Takashi Matsumoto /
第4著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyto (略称: UT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayash /
第5著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera /
第6著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: KU)
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講演者
発表日時 2015-12-17 09:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2015-63,IEICE-CPSY2015-76 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.373(ICD), no.374(CPSY) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2015-12-10,IEICE-CPSY-2015-12-10 


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