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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-03 14:10 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成 ○嶋津大地・大竹哲史（大分大）  VLD2015-70 DC2015-66 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する． 従来より使用されているシード生成法は，まずテスト対象故障に対するテストキューブを求め，それをシードに変換する方法である． この方法では，テストキューブによってはシードに変換できない場合があり，BIST環境で検出可能な故障であってもそれを検出するシードを得られないことがあった． 著者らの研究グループでは，ランチ・オフ・キャプチャ（LoC）方式による遅延故障テストを対象とした，スキャンBIST向けLFSRシードを直接生成する方法を提案した． この手法はLFSRの構造を時間展開して，LFSRシードとスキャンFFの依存関係を表したXORネットワークと呼ばれる組合せ回路を設計し，これをシード生成対象回路と疑似的に接続することでATPGの探査空間を制約する． 本稿では，LFSRに加えてMISRを時間展開したXORネットワークを設計し， これも用いてテスト生成することで直接シードを生成する方法を提案する． 本稿では，ITC'99，IWLS'05ベンチマーク回路を用いた実験により，提案手法の有効性を評価する． |
| （英） | In this paper, we propose a method of LFSR/MISR seed generation for delay fault BIST. A widely used conventional way to generate seeds is the following: a test cube for a fault is first generated and the cube is then converted into a seed. However, the conversion does not always succeed and the fault may not be detected. The authors' group has proposed an LFSR seed generation method for scan based BIST which aims to detect delay faults using ATPG with the launch-off-capture (LoC) scheme. This approach models dependency between an LFSR seed and the value of scan FFs in a combinational circuit called an XOR network and connects it to the CUT as a constraint of ATPG. The model enables direct seed generation by using ATPG. In this paper, an XOR network supporting LFSR and MISR for delay fault testing is designed and used for direct seed generation. Experiments using ITC'99 and IWLS'05 benchmark circuits are performed to evaluate the effectiveness of the proposed method. |
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| キーワード | （和） | BIST / シード生成 / LFSR/MISR / 遷移故障 / 制約付きテスト生成 / / / |
| （英） | BIST / seed generation / LFSR/MISR / delay fault / constrained test generation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 339, DC2015-66, pp. 213-218, 2015年12月. | |
| 資料番号 | DC2015-66 | |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2015-70 DC2015-66 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2015-12-01 - 2015-12-03 |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An approach to LFSR/MISR seed generation for delay fault BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(3)（和/英） | LFSR/MISR / LFSR/MISR |
| キーワード(4)（和/英） | 遷移故障 / delay fault |
| キーワード(5)（和/英） | 制約付きテスト生成 / constrained test generation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 嶋津 大地 / Daichi Shimazu / シマヅ ダイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大分大学 (略称： 大分大) Oita University (略称： Oita Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大竹 哲史 / Satishi Ohtake / オオタケ サトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大分大学 (略称： 大分大) Oita University (略称： Oita Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-03 14:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2015-70, DC2015-66 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.338(VLD), no.339(DC) |
| ページ範囲 | pp.213-218 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) |
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