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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-01 15:45 ［フェロー記念講演］VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 ○梶原誠司（九工大）  VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2015-128 ICD2015-53 |
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| 抄録 | （和） | VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は，テスト品質向上（故障検出能力の向上）とコスト削減を主眼に研究開発が行われ，VLSIの普及や信頼性向上に貢献してきた．本講演では，膨大なテストデータを用いたビッグデータ解析や経年劣化に対処するためのフィールドテストなど，近年注目されているテスト技術を紹介し，これらがシステムディペンダビリティ向上の新たな付加価値を提供することへの期待について述べる． |
| （英） | VLSI Test technology for detection of manufacturing faults has been developed to improve test quality that is the capability of fault detection and to reduce test cost, and it has contributed to the spread of VLSIs and the improvement of system reliability. In this talk, recent test technology such as big data analysis using huge manufacturing test data and field test dealing with aging is introduced. And then, expectation to provide added value for enhancements of system dependability is described. | |
| キーワード | （和） | VLSIテスト / システムディペンダビリティ / ビッグデータ / フィールドテスト / / / / |
| （英） | VLSI test / system dependability / big data / field test / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 342, CPSY2015-64, pp. 19-20, 2015年12月. | |
| 資料番号 | CPSY2015-64 | |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, CPM, ICD, CPSY, DC, RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2015-128 ICD2015-53 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2015-12-01 - 2015-12-03 |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CPSY |
| 会議コード | 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improving System Dependability by VLSI Test Technology |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | VLSIテスト / VLSI test |
| キーワード(2)（和/英） | システムディペンダビリティ / system dependability |
| キーワード(3)（和/英） | ビッグデータ / big data |
| キーワード(4)（和/英） | フィールドテスト / field test |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-01 15:45:00 |
| 発表時間 | 60分 |
| 申込先研究会 | CPSY |
| 資料番号 | VLD2015-44, CPM2015-128, ICD2015-53, CPSY2015-64, DC2015-40, RECONF2015-51 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.338(VLD), no.340(CPM), no.341(ICD), no.342(CPSY), no.339(DC), no.343(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF) |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, CPM, ICD, CPSY, DC, RECONF) |
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