講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-12-12 11:00
炭素系多原子分子イオンのシリコンへの照射効果 ○竹内光明・林 恭平・龍頭啓充・高岡義寛(京大)・永山 勉・松田耕自(日新イオン機器) EID2014-17 SDM2014-112 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2014-17 SDM2014-112 |
抄録 |
(和) |
炭化水素多原子分子イオンC$_{n}$H$_{n}^{+}$($n$=3, 7, 14)及びC$_{n}$H$_{2n+1}^{+}$($n$=3,6,12) を0.4 -- 3.0 keV/carbon, 1$times$10$^{14}$ carbons/cm$^{2}$ にてSi基板に照射し, 基板損傷を分光エリプソメーターとラザフォード後方散乱分析を用いて評価した.C$_{n}$H$_{2n+1}^{+}$はC$_{n}$H$_{n}^{+}$に比べ変異原子数が約40%程度多く, エリプソメーターから求めた損傷層も厚い傾向であった. |
(英) |
Irradiation damage on Si(100) substrates which were irradiated with C$_{n}$H$_{n}^{+}$($n$=3, 7, 14) and C$_{n}$H$_{2n+1}^{+}$($n$=3,6,12) under conditions of 0.4 -- 3.0 keV/carbon and 1$times$10$^{14}$ carbons/cm$^{2}$ were evaluated by using Rutherford back scattering with channeling (RBS/C) and spectroscopic ellipsometry (SE).
Number of displaced atoms on Si lattice of C$_{n}$H$_{2n+1}^{+}$ estimated by the RBS/C was 40% greater than that of C$_{n}$H$_{n}^{+}$ at similar energy, which agreed with the SE's data. |
キーワード |
(和) |
炭化水素 / イオン注入 / アニール / ラザフォード後方散乱 / 分光エリプソメトリー / / / |
(英) |
hydrocarbon / ion implantation / annealing / Rutherford backscattering / spectro ellipsometry / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 360, SDM2014-112, pp. 21-24, 2014年12月. |
資料番号 |
SDM2014-112 |
発行日 |
2014-12-05 (EID, SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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