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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-12-02 16:05 論理シミュレーションにもとづいたNBTI劣化過渡解析の高速化手法 ○森 一倫・名倉 徹・飯塚哲也・浅田邦博（東大）  ICD2014-109 CPSY2014-121 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2014-109 |
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| 抄録 | （和） | 負バイアス温度不安定性（NBTI）劣化が，微細化されたトランジスタにおいて重要な信頼性問題のひとつとなっている．本論文では，反応・拡散モデルを用いたNBTIシミュレーションにおいて，論理シミュレーション結果にもとづいて各トランジスタにおけるゲート酸化膜中の水素分布を計算することにより，高精度なNBTI劣化過渡解析を実現する．NBTI劣化の周波数依存性を用いることで，例えば1秒間のシミュレーション結果を1年間のシミュレーション結果へと加速変換する方法についても提案する． |
| （英） | Negative Bias Temperature Instability (NBTI) degradation is one of the important problems in nano-scale transistors.In this paper, we propose an accurate transient simulation method of NBTI degradation based on Reaction-Diffusion model by calculating hydrogen distribution at gate oxide in each transistor according to the gate input level obtained by logic simulations. We also propose an acceleration scheme of NBTI simulation based on the frequency dependence of NBTI degradation and recovery, that can extend a simulation results of one-second duration into one-year results. | |
| キーワード | （和） | 負バイアス温度不安定性 / 反応・拡散モデル / 信頼性 / モデリング / 劣化加速シミュレーション / / / |
| （英） | Negative Bias Temperature Instability / Reaction-Diffusion model / reliability / modeling / accelerated aging simulation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 345, ICD2014-109, pp. 141-145, 2014年12月. | |
| 資料番号 | ICD2014-109 | |
| 発行日 | 2014-11-24 (ICD, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2014-109 CPSY2014-121 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2014-109 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPSY |
| 開催期間 | 2014-12-01 - 2014-12-02 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2014-12-ICD-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 論理シミュレーションにもとづいたNBTI劣化過渡解析の高速化手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An accelerating method of NBTI degradation transition analysis based on logic simulation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 負バイアス温度不安定性 / Negative Bias Temperature Instability |
| キーワード(2)（和/英） | 反応・拡散モデル / Reaction-Diffusion model |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(4)（和/英） | モデリング / modeling |
| キーワード(5)（和/英） | 劣化加速シミュレーション / accelerated aging simulation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 一倫 / Kazunori Mori / モリ カズノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 名倉 徹 / Toru Nakura / ナクラ トオル |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯塚 哲也 / Tetsuya Iizuka / イイヅカ テツヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-12-02 16:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2014-109, CPSY2014-121 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.345(ICD), no.346(CPSY) |
| ページ範囲 | pp.141-145 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2014-11-24 (ICD, CPSY) |
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