講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-11-28 14:45
FPGAにおけるオンチップ遅延測定について ○安部賢太朗・三宅庸資・梶原誠司・佐藤康夫(九工大) VLD2014-109 DC2014-63 |
抄録 |
(和) |
本論文では,FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる.半導体技術の進歩により,微細化,高速化が進む反面,出荷後の劣化現象に起因する遅延値の増加による故障が問題となっている.FPGAはASIC等のLSIと比べて,論理を構成する際により多くのトランジスタが使用される.そのため,FPGAを長期間使用し続けると,トランジスタの経年劣化により回路が誤動作する可能性は通常のLSI以上であると考えられる.そこで,劣化による故障に対応するため,FPGA搭載論理の回路遅延を自己測定する際に必要なテストタイミングをPLLの位相シフト機能を利用して可変にする手法が提案されている.本研究では,FPGAに可変テストタイミング生成回路を搭載し,遅延測定回路をチップ上に構築することにより,チップ上でテストタイミングを変えた際の回路の遅延マージン測定法について述べる. |
(英) |
This paper describes an on-chip delay measurement method that targets a logic circuit on an FPGA. While advances in semiconductor technology bring miniaturization and performance improvement of the circuit, failures due to the delay degradation by aging after shipment have become a crucial problem. When a logic circuit is configured on an FPGA, the number of transistors to be used for the circuit increases compared to cases of LSIs such as ASICs. Therefore, if the FPGA is used for a long time, the circuit will not operate correctly due to the aging of the transistors, and such a concern for the FPGA will be more serious than that of LSI. To conquer this problem, a method of measuring a circuit delay with variable test timing generated by a PLL’s phase shift function has been proposed. In this work, the variable test timing generator is implemented on the FPGA, and an on-chip delay measurement is performed. Then, we describe a method to measure the delay margin of the circuit varying the test-timing. |
キーワード |
(和) |
FPGA / 自己テスト / 遅延測定 / 可変テストタイミング / / / / |
(英) |
FPGA / Built-In Self-Test / delay measurement / variable test-timing / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 329, DC2014-63, pp. 245-250, 2014年11月. |
資料番号 |
DC2014-63 |
発行日 |
2014-11-19 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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VLD2014-109 DC2014-63 |
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