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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-11-28 16:00 時間的三重化によるソフトエラー耐性向上の解析的評価 ○土井龍太郎・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大）  VLD2014-112 DC2014-66 |
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| 抄録 | （和） | 集積回路の微細化・高集積化に伴って，集積回路に発生するソフトエラーの発生頻度が上昇している．ソフトエラーは，集積回路の信頼性を低下させる一因となっており，誤作動が許されないアプリケーションでは，ソフトエラー考慮設計が必要となる．ソフトエラー耐性向上技術の一つである空間的冗長化は，演算速度の低下が小さいことや実装が容易であることなどから広く研究され，実用化されている．一方，時間的冗長化も概念は広く知られた対策技術であるが，実用されている例が少なく，その有用性は十分に評価されていない．本稿では，時間的三重化を適用した回路について，ソフトエラー耐性向上を解析的に評価する．評価の結果，時間的三重化によって空間的三重化と同程度のソフトエラー耐性向上が達成できることがわかった． |
| （英） | Chip-level soft error rate is increasing due to the device miniaturization and larger scale integration. Soft error is one of major factors that degrade the reliability of integrated circuits, and soft error aware design is demanded for applications that cannot allow any failures. As one of soft error countermeasures, spatial redundancy has been widely studied and adopted in real products because of the small speed overhead and the easiness of implementation. On the other hand, temporal redundancy, which is another well-known technique, is rarely adopted in practical applications and its usefulness is not quantitatively evaluated. This report analytically evaluates the soft error immunity enhancement thanks to temporal triplication. The evaluation result shows that the error rate reduction of the temporal triplication is comparable to that of the spatial triplication. | |
| キーワード | （和） | 信頼性 / ソフトエラー / 時間的三重化 / 時間的冗長化 / 空間的三重化 / 空間的冗長化 / / |
| （英） | Reliability / Soft Error / Temporal Triplication / Temporal Redundancy / Spatial Triplication / Spatial Redundancy / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 329, DC2014-66, pp. 263-268, 2014年11月. | |
| 資料番号 | DC2014-66 | |
| 発行日 | 2014-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2014-112 DC2014-66 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2014-11-26 - 2014-11-28 |
| 開催地（和） | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） |
| 開催地（英） | B-ConPlaza |
| テーマ（和） | デザインガイア2014 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2014 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 時間的三重化によるソフトエラー耐性向上の解析的評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An analytic evaluation on soft error immunity enhancement due to temporal triplication |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(3)（和/英） | 時間的三重化 / Temporal Triplication |
| キーワード(4)（和/英） | 時間的冗長化 / Temporal Redundancy |
| キーワード(5)（和/英） | 空間的三重化 / Spatial Triplication |
| キーワード(6)（和/英） | 空間的冗長化 / Spatial Redundancy |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土井 龍太郎 / Ryutaro Doi / ドイ リュウタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 尾上 孝雄 / Takao Onoye / オノエ タカオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-11-28 16:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2014-112, DC2014-66 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.328(VLD), no.329(DC) |
| ページ範囲 | pp.263-268 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-11-19 (VLD, DC) |
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