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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-17 13:30
[ポスター講演]弱測定および弱値増幅における干渉効果
須佐友紀東工大
技報オンラインサービス実施中(通ソ/ISS/ESS/エレソのみ)
抄録 (和) 被測定系の事後選択を伴う弱測定では, 相互作用を非常に小さくすることで弱値を測定できる.
また, 弱値は任意に大きな値になりえるため, 弱測定を行うことで得れらる物理量の期待値が大きくなるという効果がある.
本研究では, 弱測定を行いかつ相互作用が非常に弱いという近似を用いたとしても, 測定結果が弱値とは異なる例を提示する.
また弱値増幅効果は, 被測定器系の事後選択することで生まれる干渉項により引き起こされることを示す. 
(英) The weak measurement with the post-selection on the measured system, can extract the weak value when the interaction between the measuring probe and measured system is very small. Since the weak value can be arbitrarily large, it is give the large expected value of the physical quantity which is result of weak measurement. This effect is called ``weak value amplification''. In this study, I give the example indicating that the weak measurement result with a weak interaction approximation can be different from the weak value. Also I show that the weak value amplification effect is caused by the interference term induced by the post-selection on the measured system.
キーワード (和) 弱測定 / 弱値増幅 / / / / / /  
(英) Weak Measurement / Weak Value Amplification / / / / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 QIT  
開催期間 2014-11-17 - 2014-11-18 
開催地(和) 東北大学 
開催地(英) Tohoku Univ. 
テーマ(和) 量子情報, 一般 
テーマ(英) Quantum Information 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 QIT 
会議コード 2014-11-QIT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 弱測定および弱値増幅における干渉効果 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) The interference effect in the weak measurement and weak value amplification. 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 弱測定 / Weak Measurement  
キーワード(2)(和/英) 弱値増幅 / Weak Value Amplification  
キーワード(3)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 須佐 友紀 / Yuki Susa /
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
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講演者
発表日時 2014-11-17 13:30:00 
発表時間 90 
申込先研究会 QIT 
資料番号  
巻番号(vol)  
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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