電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ)
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2014-10-23 14:30
テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法
大西理功阪大)・小堀一雄NTTデータ)・松下 誠井上克郎阪大
技報オンラインサービス実施中
抄録 (和) Javaプログラム内には,実際の被アクセス範囲に比べて過剰に広く設定されているアクセス修飾子(Accessibility Excessiveness,AE)が多数存在することが知られている.しかし,既存のAE検出手法ではAEの発生理由が考慮されていないため,検出結果には障害となりうるAE以外に設計者の意図により生まれたAEも含まれてしまっていた.そこで本報告では,意図的なアクセスを自動的に判別してAEから除外して障害となりう るAEの適合率をあげることを,テストケースを用いることで実現する.また,ソースコードのテストカバレッジとそのAE変化の関係を調査した.その結果,テストケースにより意図的に作られたAEを発見することができた.また,調査対象のソフトウェアについては,AEメソッドのテストカバレッジが高いものほど,修正されていることが分かった. 
(英) In Java Program, we have found there are many access modifiers declared as wider scope than its real access, and we named Accessibility Excessiveness (AE) to such modifiers. In previous AE detection method, we failed to exclude developer-intentional AE from the result, since the method cannot consider why modifiers are in AE. In this paper, we propose a detection method that identifies developer-intentional AE by using test cases. We also investigated if there are some relations between the test coverage of source code and its AE status. Consequently, we succeeded to find developer-intentional with the proposed method. And we also found that the higher the coverage of the AE methods in subject software, the more AE is fixed during its development.
キーワード (和) アクセス修飾子 / Javaプログラム / 開発履歴 / 設計情報 / テストケース / テストカバレッジ / /  
(英) Access Modifier / Java Program / Development History / Software Design / Testcase / Test Coverage / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 271, SS2014-26, pp. 7-12, 2014年10月.
資料番号 SS2014-26 
発行日 2014-10-16 (SS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 SS  
開催期間 2014-10-23 - 2014-10-24 
開催地(和) 高知市文化プラザかるぽーと 
開催地(英) Kochi city culture-plaza cul-port 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SS 
会議コード 2014-10-SS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) テストケースを利用したJavaプログラムのアクセス修飾子過剰性分析手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Accessibility Excessiveness in Java Programs Using Test Cases as Design Information 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) アクセス修飾子 / Access Modifier  
キーワード(2)(和/英) Javaプログラム / Java Program  
キーワード(3)(和/英) 開発履歴 / Development History  
キーワード(4)(和/英) 設計情報 / Software Design  
キーワード(5)(和/英) テストケース / Testcase  
キーワード(6)(和/英) テストカバレッジ / Test Coverage  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大西 理功 / Riku Ohnisi / オオニシ リク
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小堀 一雄 / Kazuo Kobori / コボリ カズオ
第2著者 所属(和/英) 株式会社 NTTデータ (略称: NTTデータ)
NTT DATA Corporation (略称: NTT DATA)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松下 誠 / Makoto Matsushita / マツシタ マコト
第3著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 克郎 / Katsuro Inoue / イノウエ カツロウ
第4著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2014-10-23 14:30:00 
発表時間 30 
申込先研究会 SS 
資料番号 IEICE-SS2014-26 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.271 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SS-2014-10-16 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会