お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2014-02-10 12:25
メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
里中沙矢香岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-86
抄録 (和) 高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しかし,LFSRでは順序回路に対して十分な故障検出率が得られない場合があった.本研究では,LFSRの代わりにメルセンヌ・ツイスタアルゴリズムをテストパターン生成器として用い,BISTとしてVLSIに実装することを提案する.メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムとは,疑似乱数生成手法であり,乱数性が良く,周期が非常に長いという特徴を持つ.実験の結果,メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムはLFSRに比べて高い故障検出率を達成し,許容可能な面積で実装できることが分かった. 
(英) To perform a high reliable manufacturing test with a reasonable cost, LFSR is widely used as test pattern generator. However, the LFSR-based pseudo random patterns are not suitable for sequential circuits.In this paper, we supposed that the Mersenne Twister is used as the test pattern generator instead of the LFSR to implement BIST into VLSIs. Mersenne Twister is one of pseudo random number generation algorithm and has the two advantages that are good randomness and huge period.Experimental results show that the test patterns generated through the Mersenne Twister are efficient with respect to the fault coverage and it is implemented with a comparable cost to the LFSR.
キーワード (和) 出荷テスト / 組込み自己テスト / テストパターン生成器 / 線形帰還シフトレジスタ / メルセンヌ・ツイスタ / / /  
(英) Manufacturing Test / BIST / Test Pattern Generator / Linear Feedback Shift Register / Mersenne Twister / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-86, pp. 43-48, 2014年2月.
資料番号 DC2013-86 
発行日 2014-02-03 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2013-86

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2014-02-10 - 2014-02-10 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An Efficient Test Pattern Generator based on Mersenne Twister algorithm 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 出荷テスト / Manufacturing Test  
キーワード(2)(和/英) 組込み自己テスト / BIST  
キーワード(3)(和/英) テストパターン生成器 / Test Pattern Generator  
キーワード(4)(和/英) 線形帰還シフトレジスタ / Linear Feedback Shift Register  
キーワード(5)(和/英) メルセンヌ・ツイスタ / Mersenne Twister  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 里中 沙矢香 / Sayaka Satonaka / サトナカ サヤカ
第1著者 所属(和/英) 奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
Nara National College of Technology (略称: NNCT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 大志 / Hiroshi Iwata / イワタ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) 奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
Nara National College of Technology (略称: NNCT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 賢一 / Ken'ichi Yamaguchi / ヤマグチ ケンイチ
第3著者 所属(和/英) 奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
Nara National College of Technology (略称: NNCT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2014-02-10 12:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2013-86 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.430 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2014-02-03 (DC) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会