講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-02-10 12:25
メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 ○里中沙矢香・岩田大志・山口賢一(奈良高専) DC2013-86 |
抄録 |
(和) |
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しかし,LFSRでは順序回路に対して十分な故障検出率が得られない場合があった.本研究では,LFSRの代わりにメルセンヌ・ツイスタアルゴリズムをテストパターン生成器として用い,BISTとしてVLSIに実装することを提案する.メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムとは,疑似乱数生成手法であり,乱数性が良く,周期が非常に長いという特徴を持つ.実験の結果,メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムはLFSRに比べて高い故障検出率を達成し,許容可能な面積で実装できることが分かった. |
(英) |
To perform a high reliable manufacturing test with a reasonable cost, LFSR is widely used as test pattern generator. However, the LFSR-based pseudo random patterns are not suitable for sequential circuits.In this paper, we supposed that the Mersenne Twister is used as the test pattern generator instead of the LFSR to implement BIST into VLSIs. Mersenne Twister is one of pseudo random number generation algorithm and has the two advantages that are good randomness and huge period.Experimental results show that the test patterns generated through the Mersenne Twister are efficient with respect to the fault coverage and it is implemented with a comparable cost to the LFSR. |
キーワード |
(和) |
出荷テスト / 組込み自己テスト / テストパターン生成器 / 線形帰還シフトレジスタ / メルセンヌ・ツイスタ / / / |
(英) |
Manufacturing Test / BIST / Test Pattern Generator / Linear Feedback Shift Register / Mersenne Twister / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-86, pp. 43-48, 2014年2月. |
資料番号 |
DC2013-86 |
発行日 |
2014-02-03 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2013-86 |