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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-02-10 09:50 非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法 ○水谷早苗・岩田大志・山口賢一（奈良高専）  DC2013-81 |
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| 抄録 | （和） | VLSI の製造プロセスの微細化に伴い,非同期式回路が注目されている.非同期式回路の実現方法として, 同期式回路から非同期式回路へ変換する手法が提案されている.本稿では,この同期-非同期変換によって実現された 非同期式 QDI(Quasi Delay Insensitive) 回路に対する DFT 手法およびテスト手法を提案する.既存手法のテストは, 変換によって非冗長となる故障が検出できないという問題がある.提案手法では,縮退故障を故障の箇所に応じて 5 つに分類し,それぞれのタイプに対して DFT を行うことで 100% の故障検出率を保証する.評価実験では,ベンチ マーク回路に対して提案手法を適用し 100% を達成することを確認した.また,DFT による面積の増加率も検証した. |
| （英） | With the advances of semiconductor process technologies, synchronous circuits have serious problems of thr clock. Asynchronous circuits can solove the problems of synchronous design. Synchronous-asynchronous converted techniques have been proposed as a method for implementing asynchronous circuits. This paper focuses on testing QDI asynchronous circuits converted from synchronous ones. Previous methods cannot detect faults to be irredundant by converted. We classified the faults to five types, and proposed DFT method in according to the each fault type. In the experimental results the proposed method achieved 100% fault coverage, and the area overhead of the proposed method is evaluated. | |
| キーワード | （和） | 非同期式回路 / 同期-非同期変換 / Quasi Delay Insensitive / テスト容易化設計 / テスト生成 / / / |
| （英） | asynchronous circuit / synchronous-asynchronous converted techniques / Quasi Delay Insensitive / design for testability / test generation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-81, pp. 13-18, 2014年2月. | |
| 資料番号 | DC2013-81 | |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-81 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-02-10 - 2014-02-10 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A DFT Method to Achieve 100% Fault Coverage for QDI Asynchronous Circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 非同期式回路 / asynchronous circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 同期-非同期変換 / synchronous-asynchronous converted techniques |
| キーワード(3)（和/英） | Quasi Delay Insensitive / Quasi Delay Insensitive |
| キーワード(4)（和/英） | テスト容易化設計 / design for testability |
| キーワード(5)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水谷 早苗 / Sanae Mizutani / ミズタニ サナエ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校 (略称： 奈良高専) Nara National College of Technology (略称： NNCT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩田 大志 / Hiroshi Iwata / イワタ ヒロシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校 (略称： 奈良高専) Nara National College of Technology (略称： NNCT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 賢一 / Ken'ichi Yamaguchi / ヤマグチ ケンイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良工業高等専門学校 (略称： 奈良高専) Nara National College of Technology (略称： NNCT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-02-10 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-81 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.430 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) |
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