講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-12-11 14:55
ICカードへの電磁波照射攻撃事例におけるフォールト生起プロセス ○土屋 遊・大野 仁・松本 勉(横浜国大) ISEC2013-77 |
抄録 |
(和) |
暗号モジュールに部分的なフォールトを誘発し状況を観察することによりモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃方法であるため,その耐性評価法の確立が求められている.しかし,フォールト攻撃の可能性を机上で指摘した論文は多いが,実験による検証結果を示したものは極めて少ない.このため,実際にフォールトを誘発した環境,条件などに関する知見を集積することには意義がある.我々は電磁波照射によるフォールト攻撃評価環境を構築し,ブロック暗号AES(128ビット鍵)をソフトウェア実装した(特段の対策をしていない)接触型ICカードの動作中にフォールトを誘発し暗号鍵を求めることに成功し,鍵の抽出方法について報告を行った.しかしフォールトがどのようにして誘発されたかという物理的原因の特定は課題となっていた.今回,その物理的原因が特定できたため報告を行う. |
(英) |
Fault injection attack, inducing partial fault in a cryptographic module and extracting the inside key, has been considered to be a security threat, and there is a need to develop a method to evaluate the security of cryptographic modules against the fault attack. In our research, we have developed an experiment environment for fault injection attack using electromagnetic irradiation to evaluate the security of cryptographic modules. This environment irradiates electromagnetic wave to a smartcard with software-implemented AES. In this paper, we show the process by which faults are injected on Smart Cards. |
キーワード |
(和) |
ICカード / マイクロコントローラ / フォールト攻撃 / クロックグリッチ / AES / DFA / 暗号 / |
(英) |
Smart Card / Microcontroller / Fault Injection Attack / Electromagnetic Wave / AES / DFA / Cryptography / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 342, ISEC2013-77, pp. 25-31, 2013年12月. |
資料番号 |
ISEC2013-77 |
発行日 |
2013-12-04 (ISEC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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ISEC2013-77 |