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講演抄録/キーワード
講演名 2013-03-08 10:30
非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃
大野 仁土屋 遊遠山 毅岸川 剛齋藤翔平横浜国大)・佐々木明彦森田テック)・佐藤 証東大)・松本 勉横浜国大
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文献情報 信学技報, vol. 112, no. 461, ISEC2012-111, pp. 195-202, 2013年3月.
資料番号 ISEC2012-111 
発行日 2013-02-28 (IT, ISEC, WBS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 IT ISEC WBS  
開催期間 2013-03-07 - 2013-03-08 
開催地(和) 関西学院大学 大阪梅田キャンパス 
開催地(英) Kwansei Gakuin Univ., Osaka-Umeda Campus 
テーマ(和) IT・ISEC・WBS合同研究会 
テーマ(英) joint meeting of IT, ISEC, and WBS 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ISEC 
会議コード 2013-03-IT-ISEC-WBS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Laser Fault Injection Attack on Non-Decapped Contact Smart Card 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大野 仁 / Hitoshi Ono / オオノ ヒトシ
第1著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 土屋 遊 / Yuu Tsuchiya / ツチヤ ユウ
第2著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 遠山 毅 / Tsuyoshi Toyama / トオヤマ ツヨシ
第3著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 岸川 剛 / Takeshi Kishikawa / キシカワ タケシ
第4著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 齋藤 翔平 / Shohei Saito / サイトウ ショウヘイ
第5著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐々木 明彦 / Akihiko Sasaki / ササキ アキヒコ
第6著者 所属(和/英) 森田テック株式会社 (略称: 森田テック)
MORITA TECH CO.,LTD. (略称: MORITA TECH)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 証 / Akashi Satoh / サトウ アカシ
第7著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム
第8著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
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講演者
発表日時 2013-03-08 10:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ISEC 
資料番号 IEICE-IT2012-93,IEICE-ISEC2012-111,IEICE-WBS2012-79 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.460(IT), no.461(ISEC), no.462(WBS) 
ページ範囲 pp.195-202 
ページ数 IEICE-8 
発行日 IEICE-IT-2013-02-28,IEICE-ISEC-2013-02-28,IEICE-WBS-2013-02-28 


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