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講演抄録/キーワード
講演名 2013-03-06 15:35
レジスタビット反転を用いた経年劣化に強靭な多重化回路
岡田翔伍増田政基京都工繊大)・姚 駿嶋田 創奈良先端大)・小林和淑京都工繊大
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文献情報 信学技報, vol. 112, no. 451, VLD2012-162, pp. 147-152, 2013年3月.
資料番号 VLD2012-162 
発行日 2013-02-25 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2013-03-04 - 2013-03-06 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術 
テーマ(英) Design Technology for System-on-Silicon 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2013-03-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) レジスタビット反転を用いた経年劣化に強靭な多重化回路 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Robust Redundant Circuit Structure to Mitigate Wearout by Reversing Register Values 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡田 翔伍 / Shogo Okada / オカダ ショウゴ
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 政基 / Masaki Masuda / マスダ マサキ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 姚 駿 / Jun Yao / ヤオ ジュン
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 嶋田 創 / Hajime Shimada / シマダ ハジメ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第5著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2013-03-06 15:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2012-162 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.451 
ページ範囲 pp.147-152 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2013-02-25 


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