講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-03-04 13:50
エラートレラントアプリケーションのための多重縮退故障を用いた論理簡単化アルゴリズム ○亀井惇平・松木伸伍・岩垣 剛・市原英行・井上智生(広島市大) VLD2012-136 |
抄録 |
(和) |
LSI システムが多少の誤り出力や性能低下を引き起こしても,システムの用途がこれらを許容できるとき,このような用途をエラートレラントアプリケーションと呼ぶ.本論文では,エラートレラントアプリケーションのための論理LSI の論理簡単化に着目する.文献[10] では,故障の許容性を調べることで除去可能な部分回路を判別する論理簡単化アルゴリズムが提案されているが,このアルゴリズムは故障の許容性判定に多くの処理時間を必要としている.この問題に対して,(1)多重縮退故障の許容性に関する性質を利用して許容になる可能性の高い故障のみを許容性判定の対象とすることと,(2)許容性判定処理と計算量の小さい冗長故障判定処理を併用することで,故障の許容性判定を効率的に行うアルゴリズムを提案する.ベンチマーク回路に対する実験により,従来法に比べて,提案法は処理時間を小さいだけでなく簡単化能力も高いことを示す. |
(英) |
In error tolerant applications, some specific errors, which are of certain types or have severities within certain limits, of LSIs are tolerable. In this paper, we focus on logic optimization of circuits for error tolerant application. To identify removable portions of a logic circuit, the authors check acceptability of stuck-at faults in the circuit by utilizing a time-consuming threshold test generation algorithm[10]. We propose a logic optimization algorithm to reduce the computational effort to identify acceptable faults. In order to achieve this objective, the proposed algorithm (1) targets only faults whose acceptability is high for acceptability identification and, (2) utilizes a redundancy identification procedure, i.e., a general test generation algorithm, whose computational effort is small, in combination with the threshold test generation algorithm. Experimental results show that, compared with the previous algorithm, the proposed algorithm can not only reduce the computational effort but also increase in the ability of logic optimization. |
キーワード |
(和) |
許容性判定 / 冗長除去 / 多重故障 / 論理簡単化 / 閾値テスト生成 / / / |
(英) |
Acceptability identification / redundancy elimination / multiple faults / logic optimization / threshold test generation / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 451, VLD2012-136, pp. 1-6, 2013年3月. |
資料番号 |
VLD2012-136 |
発行日 |
2013-02-25 (VLD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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VLD2012-136 |