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講演抄録/キーワード
講演名 2013-03-01 14:00
遠視野像逆フーリエ変換による光導波路端の電界分布計測方法の検討
外薗裕仁中島大介陳 嬌辻野美樹浜本貴一九大OCS2012-109 OFT2012-85 OPE2012-203 エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2012-203
抄録 (和) レーザーや光導波路の光フィールドの評価方法として、近視野像(NFP)及び遠視野像(FFP)計測が一般的に用いられる。NFPとしては通常、導波路端面近傍の光フィールドを、レンズを介して写真撮影を行う手法が知られているが、実際には、導波路端面における光強度分布の正確かつ高精度な空間的位置に対する電界分布を直接的に計測することは難しい。そこで、FFPを測定し、逆フーリエ変換によって光の出射端面における電界分布を直接計測する手法を検討した。その結果、本手法が、ある程度の精度で光導波路端面における光フィールド評価が可能であることが分かったので報告する。 
(英) NFP(Near-Field Pattern) and FFP(Far-Field Pattern) measurement are commonly used by evaluation method of ray field of the leaser and light waveguide. NFP is a technique for performing photography through the lens optical field in the vicinity of the waveguide end face. In fact, it is difficult to directly measure the electric field distribution for precise and accurate spatial position of the light intensity distribution at the waveguide end face. Therefore, we research the direct measurement method of electric field distribution at the light emitting end face by reverse fourier transformation of FFP. In the result, we report that this method can evaluate the light field at the light waveguide end face with a certain accuracy.
キーワード (和) 近視野像 / 遠視野像 / 電界分布計測 / フーリエ変換 / フレネル-キルヒホッフの回折公式 / / /  
(英) Near field pattern / Far Field pattern / Measurement of electric field / Fourier transformation / Fresnel-Kirchhoff diffraction formula / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 449, OPE2012-203, pp. 85-90, 2013年2月.
資料番号 OPE2012-203 
発行日 2013-02-21 (OCS, OFT, OPE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OCS2012-109 OFT2012-85 OPE2012-203 エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2012-203

研究会情報
研究会 OFT OPE OCS  
開催期間 2013-02-28 - 2013-03-01 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英)  
テーマ(和) 光波センシング、光波制御・検出、光計測、ニューロ、光ファイバ(ホーリーファイバ、マルチコアファイバ等含む)伝送とファイバ光増幅・接続技術、光ファイバ計測応用、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OPE 
会議コード 2013-02-OFT-OPE-OCS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遠視野像逆フーリエ変換による光導波路端の電界分布計測方法の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Electric field profile evaluation at waveguide facet by using reverse fourier transformation of far-field pattern 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 近視野像 / Near field pattern  
キーワード(2)(和/英) 遠視野像 / Far Field pattern  
キーワード(3)(和/英) 電界分布計測 / Measurement of electric field  
キーワード(4)(和/英) フーリエ変換 / Fourier transformation  
キーワード(5)(和/英) フレネル-キルヒホッフの回折公式 / Fresnel-Kirchhoff diffraction formula  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 外薗 裕仁 / Hirohito Hokazono / ホカゾノ ヒロヒト
第1著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu University)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 大介 / Daisuke Nakashima / ナカシマ ダイスケ
第2著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu University)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 陳 嬌 / Jiao Chen / チン キョウ
第3著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu University)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 辻野 美樹 / Miki Tsujino / ツジノ ミキ
第4著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu University)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 浜本 貴一 / Kiichi Hamamoto / ハマモト キイチ
第5著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu University)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-03-01 14:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 OPE 
資料番号 OCS2012-109, OFT2012-85, OPE2012-203 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.447(OCS), no.448(OFT), no.449(OPE) 
ページ範囲 pp.65-70(OCS), pp.85-90(OFT), pp.85-90(OPE) 
ページ数
発行日 2013-02-21 (OCS, OFT, OPE) 


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