講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-03-01 14:00
遠視野像逆フーリエ変換による光導波路端の電界分布計測方法の検討 ○外薗裕仁・中島大介・陳 嬌・辻野美樹・浜本貴一(九大) OCS2012-109 OFT2012-85 OPE2012-203 エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2012-203 |
抄録 |
(和) |
レーザーや光導波路の光フィールドの評価方法として、近視野像(NFP)及び遠視野像(FFP)計測が一般的に用いられる。NFPとしては通常、導波路端面近傍の光フィールドを、レンズを介して写真撮影を行う手法が知られているが、実際には、導波路端面における光強度分布の正確かつ高精度な空間的位置に対する電界分布を直接的に計測することは難しい。そこで、FFPを測定し、逆フーリエ変換によって光の出射端面における電界分布を直接計測する手法を検討した。その結果、本手法が、ある程度の精度で光導波路端面における光フィールド評価が可能であることが分かったので報告する。 |
(英) |
NFP(Near-Field Pattern) and FFP(Far-Field Pattern) measurement are commonly used by evaluation method of ray field of the leaser and light waveguide. NFP is a technique for performing photography through the lens optical field in the vicinity of the waveguide end face. In fact, it is difficult to directly measure the electric field distribution for precise and accurate spatial position of the light intensity distribution at the waveguide end face. Therefore, we research the direct measurement method of electric field distribution at the light emitting end face by reverse fourier transformation of FFP. In the result, we report that this method can evaluate the light field at the light waveguide end face with a certain accuracy. |
キーワード |
(和) |
近視野像 / 遠視野像 / 電界分布計測 / フーリエ変換 / フレネル-キルヒホッフの回折公式 / / / |
(英) |
Near field pattern / Far Field pattern / Measurement of electric field / Fourier transformation / Fresnel-Kirchhoff diffraction formula / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 449, OPE2012-203, pp. 85-90, 2013年2月. |
資料番号 |
OPE2012-203 |
発行日 |
2013-02-21 (OCS, OFT, OPE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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