電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ)
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2013-02-13 16:40
フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法
吉見優太奈良先端大)・畠山一実大和勇太米田友和井上美智子奈良先端大/JST
技報オンラインサービス実施中
抄録 (和) 圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため,その処理手法について盛んに研究が行われている.フィールドでの組込み自己テストにおいても同様の問題が起きるが,これらの手法を実現する場合,テストデータ量,テスト時間等の制約の考慮が必要となる.本研究では,フィールドテストにおける制約の中からデータ量に焦点を当て,X-Cancelingと呼ばれる既存手法において,不定値処理タイミングを一定間隔にすることによってデータ量削減を行う手法を提案する. 
(英) Many approaches on test pattern compression targeted unknown value handling. It is because unknown values have impacts on compression efficiency and test quality. A similar problem happens when built-in self test(BIST) is used in field where we should also consider test constraints, such as test data volume, test application time and so on. This paper focuses on the reduction of test data volume. We utilize an unknown values handling approach called X-canceling, and propose a method which uses a common X-canceling timing to reduce data volume for X-canceling operation.
キーワード (和) 組み込み自己テスト / BIST / 不定値処理 / フィールド高信頼化 / / / /  
(英) Built-in Self Test / BIST / Unknown Value Handling / Field Reliability / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-90, pp. 61-66, 2013年2月.
資料番号 DC2012-90 
発行日 2013-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2013-02-13 - 2013-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2013-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Data volume reduction method for unknown value handling in built-in self test used in field 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 組み込み自己テスト / Built-in Self Test  
キーワード(2)(和/英) BIST / BIST  
キーワード(3)(和/英) 不定値処理 / Unknown Value Handling  
キーワード(4)(和/英) フィールド高信頼化 / Field Reliability  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉見 優太 / Yuta Yoshimi / ヨシミ ユウタ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 畠山 一実 / Kazumi Hatayama / ハタヤマ カズミ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称: 奈良先端大/JST)
Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology (略称: NAIST/JST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称: 奈良先端大/JST)
Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology (略称: NAIST/JST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称: 奈良先端大/JST)
Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology (略称: NAIST/JST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ
第5著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称: 奈良先端大/JST)
Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology (略称: NAIST/JST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2013-02-13 16:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2012-90 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.429 
ページ範囲 pp.61-66 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2013-02-06 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会