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講演抄録/キーワード
講演名 2012-12-18 11:45
65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF(BCDMR-ACFF)の設計と評価
増田政基久保田勘人山本亮輔京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-117
抄録 (和) 集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減するのは困難であるが、消費電力は低電力化手法を用いることにより削減することができる。本研究は高いソフトエラー耐性を持ちつつ低消費電力な冗長化フリップフロップの設計・評価を行なった。実験結果より従来の冗長化フリップフロップと同等のエラー耐性を持ち、最大61.5 %の電力を削減できた。 
(英) We propose a low-power redundant flip-flop to be operated with high reliability over 1 GHz clock frequency based on the low-power ACFF and the highly-reliable BCDMR FF. Its power dissipation is almost equivalent to the transmission-gate FF at 10% data activity while paying 3x area penalty. Experiments by $\alpha$-particle and neutron irradiation reveals its highly-reliable operations with no errors at 1.2 V and 1 GHz.
キーワード (和) ソフトエラー / 低消費電力 / 冗長化FF / $\alpha$線 / 中性子線 / / /  
(英) Soft Error / Low-power / Redundant FF / $\alpha$ particle / neutron beam / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-117, pp. 109-113, 2012年12月.
資料番号 ICD2012-117 
発行日 2012-12-10 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2012-12-17 - 2012-12-18 
開催地(和) 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール 
開催地(英) Tokyo Tech Front 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2012-12-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF(BCDMR-ACFF)の設計と評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A 65 nm Low-Power Adaptive-Coupling Redundant Flip-Flop 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / Soft Error  
キーワード(2)(和/英) 低消費電力 / Low-power  
キーワード(3)(和/英) 冗長化FF / Redundant FF  
キーワード(4)(和/英) $\alpha$線 / $\alpha$ particle  
キーワード(5)(和/英) 中性子線 / neutron beam  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 政基 / Masaki Masuda / マスダ マサキ
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 勘人 / Kanto Kubota / クボタ カント
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 亮輔 / Ryosuke Yamamoto / ヤマモト リョウスケ
第3著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 古田 潤 / Jun Furuta / フルタ ジュン
第4著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第5著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ
第6著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
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講演者
発表日時 2012-12-18 11:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2012-117 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.365 
ページ範囲 pp.109-113 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-ICD-2012-12-10 


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