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講演抄録/キーワード
講演名 2012-11-28 10:30
デジタルLSIにおけるLSIチップ・パッケージ・ボードを統合した電源雑音協調評価
吉川薫平佐々木悠太神戸大)・市川浩司デンソー)・齊藤義行パナソニック)・永田 真神戸大VLD2012-91 DC2012-57
抄録 (和) 近年,LSIの高集積化や低動作電圧化が進むにつれ,電源雑音がシステムの性能に決定的な影響を与えるようになっている.
このため,設計時の電源雑音対策が重要となっているが,低コストな電源雑音対策の実現には,システムの設計段階における電源雑音解析技術が必要である.
電源雑音はシステムの電源供給ネットワークのインピーダンスや回路動作の影響を強く受けるため,システムの総合的なモデリングが必須である.
本稿では,LSI・パッケージ・ボードそれぞれのモデルを統合した電源雑音解析モデルを提案する.
モデルによる解析結果は,オンチップ雑音モニタ回路および磁界プローブを用いた電源雑音実測結果と雑音振幅や周波数特性がよく一致し,提案モデルがシステムの雑音推定において有効性であると示された. 
(英) Problems related with power noise in LSI system are getting prominent
because of the higher integration and lower $V_{dd}$ voltage of an LSI chip.
A Power noise simulation method that could use in various design phases is required for designing noise-tolerant and low-cost systems.
The impedance profile of power delivery network(PDN) and circuit operations strongly affects the power noise characteristics.
The simulation model that contains whole elements of system such as LSIs, packages, and boards is required.
In this paper, we present the LSI-package-board combined power noise simulation model.
Accuracy of the simulation model is confirmed by comparing the on-chip noise meaurement results using an on-chip noise monitor circuit and on-board noise measurement results using a magnetic probe method.
キーワード (和) 電源雑音 / 電磁環境両立性 / 磁界プローブ / 雑音解析 / / / /  
(英) Power noise / Power integrity / EMC / Noise simulation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 320, VLD2012-91, pp. 183-188, 2012年11月.
資料番号 VLD2012-91 
発行日 2012-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2012-91 DC2012-57

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2012-11-26 - 2012-11-28 
開催地(和) 九州大学百年講堂 
開催地(英) Centennial Hall Kyushu University School of Medicine 
テーマ(和) デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) デジタルLSIにおけるLSIチップ・パッケージ・ボードを統合した電源雑音協調評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A LSI-Package-Board co-evaluation of Power noise in the Digital LSI 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電源雑音 / Power noise  
キーワード(2)(和/英) 電磁環境両立性 / Power integrity  
キーワード(3)(和/英) 磁界プローブ / EMC  
キーワード(4)(和/英) 雑音解析 / Noise simulation  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 薫平 / Kumpei Yoshikawa / ヨシカワ クンペイ
第1著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐々木 悠太 / Yuta Sasaki / ササキ ユウタ
第2著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市川 浩司 / Kouji Ichikawa / イチカワ コウジ
第3著者 所属(和/英) 株式会社デンソー (略称: デンソー)
DENSO CORPORATION (略称: DENSO)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 齊藤 義行 / Yoshiyuki Saito / サイトウ ヨシユキ
第4著者 所属(和/英) パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Corporation (略称: Panasonic)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト
第5著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-11-28 10:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2012-91, DC2012-57 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.320(VLD), no.321(DC) 
ページ範囲 pp.183-188 
ページ数
発行日 2012-11-19 (VLD, DC) 


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