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講演抄録/キーワード
講演名 2012-10-25 13:25
集積型極低温電流比較器の改良
山田隆宏前澤正明丸山道隆大江武彦浦野千春金子晋久産総研)・日高睦夫佐藤哲朗永沢秀一日野出憲治超電導工学研SCE2012-18 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2012-18
抄録 (和) 集積型極低温電流比較器(ICCC)の設計を行い、巻き線からSQUIDまでの相互インダクタンス値として300 - 400 pH/turnと、従来型バルクCCCの値600 pH/turnに迫る値が得られた。巻き数精度については、7桁前後にまで向上した。今後は、SQUIDコントローラ付きCCCシステムに搭載しさらなる精密評価が必要である。薄膜型のため信頼性が高く、コンパクトにすることができ、冷凍機実装が容易で他デバイスとの集積・システム化をする上で有利と考えられる。 
(英) We improved performances of the integrated cryogenic current comparator (integrated CCC: ICCC) which was fabricated by using Nb multilayered fabrication process. The mutual inductance of the ICCC between input winding coils and a superconducting quantum interference device (SQUID) was in the range of 300 to 400 pH/turn, which is comparable to those of conventional bulky CCCs, 600 pH/turn. Also, winding turn errors on the order of 10-7 were obtained. In the future, more precise measurements are necessary. These thin-film-based ICCCs are reliable and compact, which means that they have advantages of integration with other devices using cryocoolers.
キーワード (和) 極低温電流比較器 / 集積型極低温電流比較器 / 超伝導回路 / 超伝導量子干渉素子 / インダクタンス / チップキャリア / 巻き線 / 誤差  
(英) Cryogenic current comparator / Integrated cryogenic current comparator / Superconducting circuit / Superconducting quantum interference device / Inductance / Chip carrier / Winding coil / Error  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 262, SCE2012-18, pp. 7-12, 2012年10月.
資料番号 SCE2012-18 
発行日 2012-10-18 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2012-18 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2012-18

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2012-10-25 - 2012-10-25 
開催地(和) 機械振興会館地下3階1号室 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 超伝導エレクトロニクス基盤技術、一般 
テーマ(英) Fundamental Technologies for Superconducting Electronics, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2012-10-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 集積型極低温電流比較器の改良 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Improvement of the integrated cryogenic current comparator 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 極低温電流比較器 / Cryogenic current comparator  
キーワード(2)(和/英) 集積型極低温電流比較器 / Integrated cryogenic current comparator  
キーワード(3)(和/英) 超伝導回路 / Superconducting circuit  
キーワード(4)(和/英) 超伝導量子干渉素子 / Superconducting quantum interference device  
キーワード(5)(和/英) インダクタンス / Inductance  
キーワード(6)(和/英) チップキャリア / Chip carrier  
キーワード(7)(和/英) 巻き線 / Winding coil  
キーワード(8)(和/英) 誤差 / Error  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 隆宏 / Takahiro Yamada / ヤマダ タカヒロ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 前澤 正明 / Masaaki Maezawa / マエザワ マサアキ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 丸山 道隆 / Michitaka Maruyama / マルヤマ ミチタカ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 大江 武彦 / Takehiko Oe / オオエ タケヒコ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 浦野 千春 / Chiharu Urano / ウラノ チハル
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 金子 晋久 / Nobu-hisa Kaneko / カネコ ノブヒサ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 日高 睦夫 / Mutsuo Hidaka / ヒダカ ムツオ
第7著者 所属(和/英) 超電導工学研究所 (略称: 超電導工学研)
Superconductivity Research Laboratory (略称: ISTEC-SRL)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 哲朗 / Tetsuro Satoh / サトウ テツロウ
第8著者 所属(和/英) 超電導工学研究所 (略称: 超電導工学研)
Superconductivity Research Laboratory (略称: ISTEC-SRL)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 永沢 秀一 / Shuichi Nagasawa / ナガサワ シュウイチ
第9著者 所属(和/英) 超電導工学研究所 (略称: 超電導工学研)
Superconductivity Research Laboratory (略称: ISTEC-SRL)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 日野出 憲治 / Kenji Hinode / ヒノデ ケンジ
第10著者 所属(和/英) 超電導工学研究所 (略称: 超電導工学研)
Superconductivity Research Laboratory (略称: ISTEC-SRL)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-10-25 13:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2012-18 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.262 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2012-10-18 (SCE) 


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