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講演抄録/キーワード
講演名 2011-12-16 09:55
MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ
山本亮輔濱中 力京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2011-129
抄録 (和) ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し,フリップフロップの3重化等,多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案されている。しかし,製造プロセスの微細化に伴い,1ビットが反転するSEUだけではなく,複数ビットが同時に反転するMCUの影響が大きくなっている。MCUは, 耐ソフトエラー多重化フリップフロップを無力化する大きな要因となっており,MCU対策は必須となっている。本稿では,レイアウトレベルでMCU対策を行った耐ソフトエラーフリップフロップ,BCDMR型フリップフロップを提案する。提案回路を65 nmプロセスにて試作し,中性子ビームによる加速試験を行った。非対策時は通常のフリップフロップの10倍程度のエラー耐性であるのに対し,対策時はエラーが観測されず,100倍以上というエラー耐性が得られた。 
(英) MCUs in redundant FFs is a dominant factor in a current deep-submicron process. A layout structure to avoid MCUs is proposed for radiation-hard dual-modular FFs called BCDMR by separating critical components without any area overhead. SER of BCDMR on a 65 nm chip is less than 9 FIT/Mbit by neutron irradiation.
キーワード (和) ソフトエラー / Single Event Upset (SEU) / Multiple Cell Upset (MCU) / BCDMR型FF / 対放射線設計 / / /  
(英) Soft Error / Single Event Upset (SEU) / Multiple Cell Upset (MCU) / bi-stable cross-coupled dual-modular (BCDMR) / rad-hard design / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 352, ICD2011-129, pp. 131-136, 2011年12月.
資料番号 ICD2011-129 
発行日 2011-12-08 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034)

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2011-12-15 - 2011-12-16 
開催地(和) 大阪大学会館 
開催地(英)  
テーマ(和) 学生・若手技術者育成のための研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2011-12-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A 65-nm Radiation-Hard Flip-Flop Tolerant to Multiple Cell Upsets 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / Soft Error  
キーワード(2)(和/英) Single Event Upset (SEU) / Single Event Upset (SEU)  
キーワード(3)(和/英) Multiple Cell Upset (MCU) / Multiple Cell Upset (MCU)  
キーワード(4)(和/英) BCDMR型FF / bi-stable cross-coupled dual-modular (BCDMR)  
キーワード(5)(和/英) 対放射線設計 / rad-hard design  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 亮輔 / Ryosuke Yamamoto / ヤマモト リョウスケ
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱中 力 / Chikara Hamanaka / ハマナカ チカラ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 古田 潤 / Jun Furuta / フルタ ジュン
第3著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第4著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大/JST)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ
第5著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大/JST)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
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講演者
発表日時 2011-12-16 09:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2011-129 
巻番号(vol) IEICE-111 
号番号(no) no.352 
ページ範囲 pp.131-136 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2011-12-08 


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