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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-12-16 09:55 MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ ○山本亮輔・濱中 力（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST）  ICD2011-129 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2011-129 |
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| 抄録 | （和） | ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し，フリップフロップの3重化等，多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案されている。しかし，製造プロセスの微細化に伴い，1ビットが反転するSEUだけではなく，複数ビットが同時に反転するMCUの影響が大きくなっている。MCUは, 耐ソフトエラー多重化フリップフロップを無力化する大きな要因となっており，MCU対策は必須となっている。本稿では，レイアウトレベルでMCU対策を行った耐ソフトエラーフリップフロップ，BCDMR型フリップフロップを提案する。提案回路を65 nmプロセスにて試作し，中性子ビームによる加速試験を行った。非対策時は通常のフリップフロップの10倍程度のエラー耐性であるのに対し，対策時はエラーが観測されず，100倍以上というエラー耐性が得られた。 |
| （英） | MCUs in redundant FFs is a dominant factor in a current deep-submicron process. A layout structure to avoid MCUs is proposed for radiation-hard dual-modular FFs called BCDMR by separating critical components without any area overhead. SER of BCDMR on a 65 nm chip is less than 9 FIT/Mbit by neutron irradiation. | |
| キーワード | （和） | ソフトエラー / Single Event Upset (SEU) / Multiple Cell Upset (MCU) / BCDMR型FF / 対放射線設計 / / / |
| （英） | Soft Error / Single Event Upset (SEU) / Multiple Cell Upset (MCU) / bi-stable cross-coupled dual-modular (BCDMR) / rad-hard design / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 352, ICD2011-129, pp. 131-136, 2011年12月. | |
| 資料番号 | ICD2011-129 | |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2011-129 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2011-129 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2011-12-15 - 2011-12-16 |
| 開催地（和） | 大阪大学会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 学生・若手技術者育成のための研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2011-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A 65-nm Radiation-Hard Flip-Flop Tolerant to Multiple Cell Upsets |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(2)（和/英） | Single Event Upset (SEU) / Single Event Upset (SEU) |
| キーワード(3)（和/英） | Multiple Cell Upset (MCU) / Multiple Cell Upset (MCU) |
| キーワード(4)（和/英） | BCDMR型FF / bi-stable cross-coupled dual-modular (BCDMR) |
| キーワード(5)（和/英） | 対放射線設計 / rad-hard design |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山本 亮輔 / Ryosuke Yamamoto / ヤマモト リョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 濱中 力 / Chikara Hamanaka / ハマナカ チカラ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 古田 潤 / Jun Furuta / フルタ ジュン |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大/JST) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大/JST) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-12-16 09:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2011-129 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.352 |
| ページ範囲 | pp.131-136 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) |
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