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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-12-15 16:00 CoおよびFe-B磁性膜被覆による高分解能磁気力顕微鏡探針の作製 ○そね田和希・大竹 充・二本正昭（中大）  MR2011-30 エレソ技報アーカイブへのリンク：MR2011-30 |
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| 抄録 | （和） | 先端半径5および3 nmのSi探針をCoおよびFe-B合金膜で被覆することにより，磁気力顕微鏡（MFM）探針を作製し，被覆膜厚，被覆前のSi探針半径，および被覆膜の表面起伏がMFM分解能に及ぼす影響について調べた．分解能は探針形状および信号検出感度により影響された．被覆磁性膜厚の増加に伴い，被覆膜の残留磁化値が増大し，MFM信号検出感度が向上した．しかし，MFM探針の先端曲率半径が増大し，MFM分解能の低下を招いた．先端曲率半径5 nmのSi探針を用いた場合，Co膜を18 nm被覆したMFM探針で9.0 nmの分解能が得られた．先端曲率半径が3 nmのSi探針を用いた場合，分解能が7.8 nmに向上した．また，Coの代わりにFe82B18合金の被覆膜（20 nm）を用いることにより，MFM分解能が7.3 nmまで改善された．Fe82B18膜は非晶質でSiに対する濡れ性が良いためMFM探針の表面起伏が改善され，滑らかで鋭い先端曲率を持つMFM探針を作製できた．本研究により高分解能なMFM探針の作製では，高い残留磁化値を持ち，かつ先鋭で滑らかな表面を持つ探針の実現が重要であることが示された． |
| （英） | Magnetic force microscope (MFM) tips are prepared by coating Si tips of 5 and 3 nm radiuses with Co and Fe-B alloy films. The effects of coating film thickness, Si tip radius, and surface undulation of coated material on the MFM resolution are investigated. The MFM resolution is influenced by both the tip radius and the MFM signal detection sensitivity. As the coating thickness increases, the sensitivity increases due to the increase in remanent magnetization of coated film material. However, with increasing the coating film thickness, the tip radius increases. A thicker coating film thickness degrades the MFM resolution due to an increase of tip radius, though the sensitivity is enhanced. A resolution of 9.0 nm is obtained with an MFM tip prepared by coating Si tip of 5 nm radius with 18-nm-thick Co film. The resolution improves to 7.8 nm by using a sharper Si tip of 3 nm radius coated with 20 nm thick Co film. The MFM resolution further improves by using an Fe82B18 alloy material which effectively decreases the MFM tip radius through realizing a smooth surface with reduced undulations around the top of MFM tip. A resolution of 7.3 nm is obtained with an MFM tip prepared by coating a Si tip of 3 nm radius with 20-nm-thick Fe82B18 film. The present research has shown that in order to prepare an MFM tip with high-resolution capability. It is very important to use a sharp base tip with smaller radius, coated of a higher remanent magnetization film with a smoother surface. | |
| キーワード | （和） | 磁気力顕微鏡 / 探針 / 分解能 / Co / Fe-B合金 / 垂直磁気記録媒体 / / |
| （英） | magnetic force microscope / tip / resolution / Co / Fe-B alloy / perpendicular magnetic recording media / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, 2011年12月. | |
| 資料番号 | ||
| 発行日 | 2011-12-08 (MR) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MR2011-30 エレソ技報アーカイブへのリンク：MR2011-30 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MRIS ITE-MMS |
| 開催期間 | 2011-12-15 - 2011-12-16 |
| 開催地（和） | 愛媛大学 |
| 開催地（英） | Ehime Univ. |
| テーマ（和） | 信号処理, 一般 |
| テーマ（英） | Signal Processing, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MRIS |
| 会議コード | 2011-12-MR-MMS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | CoおよびFe-B磁性膜被覆による高分解能磁気力顕微鏡探針の作製 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Preparation of High-Resolution Magnetic Force Microscope Tips with Co and Fe-B Magnetic Film Coating |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 磁気力顕微鏡 / magnetic force microscope |
| キーワード(2)（和/英） | 探針 / tip |
| キーワード(3)（和/英） | 分解能 / resolution |
| キーワード(4)（和/英） | Co / Co |
| キーワード(5)（和/英） | Fe-B合金 / Fe-B alloy |
| キーワード(6)（和/英） | 垂直磁気記録媒体 / perpendicular magnetic recording media |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | そね田 和希 / Kazuki Soneta / ソネタ カズキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大竹 充 / Mitsuru Ohtake / オオタケ ミツル |
| 第2著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 二本 正昭 / Masaaki Futamoto / フタモト マサアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-12-15 16:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | MRIS |
| 資料番号 | MR2011-30 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.350 |
| ページ範囲 | pp.33-40 |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | 2011-12-08 (MR) |
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