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| 講演名 | 2011-11-29 09:25 スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法 ○赤川慎人・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） 技報オンラインサービス実施中  |
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| 抄録 | （和） | テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の1種にスキャン設計がある．このスキャン設計の1つとして千葉大スキャンが提案された．千葉大スキャンはスタンダードスキャンと同じくらいの面積オーバヘッドで実装でき，100%のロバストまたはノンロバストパス遅延故障検出率を実現した手法である．しかし，特殊なテスト手順を必要とするため，テストパターンが増加する問題点がある．さらに，その特殊なテスト手順のために，既存のテストデータ圧縮手法の圧縮率もスタンダードスキャン等の場合に比べ低くなる．そこで，本研究ではスキャンチェーンを再構成することで，既存テストデータ圧縮手法の千葉大スキャンに対する圧縮率を向上させる手法を提案する．本手法では，圧縮作業以前にスキャンチェーンを再構成することで圧縮効率を向上させている．これによりスキャンチェーンを再構成しなかった場合と比較して平均で29.5％の圧縮率向上を得ている． |
| （英） | Scan design is one of design for testing. Chiba-Scan proposed in 2005 is one of scan design for delay fault testing. Chiba-Scan has complete fault coverage for robust and nonrobust path delay fault testing without extra latches. However, the test data is much larger than that of other scan design. This paper presents a method improving test data compression rate for Chiba-Scan. This method only reconstructs scan chain before test data compression. In experiment, existing compression with the proposed method improves test data compression rate 29.5% for ISCAS89 benchmark circuits compared to that without the proposed method. | |
| キーワード | （和） | 遅延故障テスト / パス遅延故障 / スキャンテスト / 千葉大スキャン / / / / |
| （英） | Delay Test / Path Delay Fault / Scan Test / Chiba-Scan / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 325, DC2011-48, pp. 121-126, 2011年11月. | |
| 資料番号 | VLD2011-72, DC2011-48 | |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) | |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2011-11-28 - 2011-11-30 |
| 開催地（和） | ニューウェルシティ宮崎 |
| 開催地（英） | NewWelCity Miyazaki |
| テーマ（和） | デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improvement of Test Data Compression Rate for Chiba-Scan Testing by Reconstructing Scan Chain |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延故障テスト / Delay Test |
| キーワード(2)（和/英） | パス遅延故障 / Path Delay Fault |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンテスト / Scan Test |
| キーワード(4)（和/英） | 千葉大スキャン / Chiba-Scan |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 赤川 慎人 / Masato Akagawa / アカガワ マサト |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第2著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 秀男 / Hideo Ito / イトウ ヒデオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba univ.) |
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| 講演者 | 1 |
| 発表日時 | 2011-11-29 09:25:00 |
| 発表時間 | 25 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | IEICE-VLD2011-72,IEICE-DC2011-48 |
| 巻番号（vol） | IEICE-111 |
| 号番号（no） | no.324(VLD), no.325(DC) |
| ページ範囲 | pp.121-126 |
| ページ数 | IEICE-6 |
| 発行日 | IEICE-VLD-2011-11-21,IEICE-DC-2011-11-21 |
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