講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-10-12 13:00
超伝導ナノワイヤ単一光子検出器におけるダークカウントの物理的起源 ○山下太郎・三木茂人・牧瀬圭正・丘 偉・寺井弘高・藤原幹生・佐々木雅英・王 鎮(NICT) SCE2011-12 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2011-12 |
抄録 |
(和) |
我々は今回、超伝導ナノワイヤ単一光子検出器において発生するダークカウントの物理的なメカニズムの解明を目的として、素子の直流特性及び0.5 K から 4.0 K の幅広い温度領域におけるダークカウントのバイアス電流依存性の測定を行った。ダークカウントの起源の候補としては、(i) Berezinskii-Kosterlitz-Thouless転移によって生じた磁束-反磁束対のunbinding及び、(ii) ナノワイヤのエッジ障壁を超えた単一磁束の侵入、の2つのメカニズムを考え詳細な解析を行った。その結果、磁束-反磁束対のunbindingが超伝導ナノワイヤ単一光子検出器におけるダークカウントの支配的な起源であることが明らかになった。 |
(英) |
We investigated a physical mechanism of the dark count in superconducting nanowire single-photon detectors. The direct-current characteristics and bias-current dependencies of the dark count rate in a wide range of temperatures from 0.5 K to 4 K were measured. As a candidate for the origin of the dark count, we examined two possible mechanisms: (i) the current-assisted unbinding of vortex-antivortex pairs induced by the Berezinskii-Kosterlitz-Thouless transition and (ii) the vortex hopping overcoming the edge barrier of the nanowire. Our results indicate that the unbinding of vortex-antivortex pairs is the dominant origin of the dark count. |
キーワード |
(和) |
単一光子検出器 / 超伝導薄膜 / 揺らぎ / / / / / |
(英) |
single-photon detector / superconducting thin film / fluctuation / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 230, SCE2011-12, pp. 1-6, 2011年10月. |
資料番号 |
SCE2011-12 |
発行日 |
2011-10-05 (SCE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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