講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-06-23 12:30
波長分解ストークスベクトルの解析によるインサービス光信号品質劣化要因分離 ○竹下仁士・野田有秀(NEC)・神田祥宏・賀川昌俊・村井 仁(OKI) OCS2011-11 |
抄録 |
(和) |
(事前公開アブストラクト) ネットワーク障害復旧のためには、信号品質劣化要因を早急に特定することが重要である。光ネットワークでは分散、非線形、光雑音等によって信号品質が左右されるので、これらの要因毎に劣化量をインサービスでモニタすることが有効である。我々は、波長分解ストークスベクトル解析を利用して劣化要因の分離する方式を考案した。モニタ装置試作を行い、実験的検証を通して提案方式が有効であることを確認した。 |
(英) |
(Advance abstract in Japanese is available) |
キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 92, OCS2011-11, pp. 1-6, 2011年6月. |
資料番号 |
OCS2011-11 |
発行日 |
2011-06-16 (OCS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
OCS2011-11 |
研究会情報 |
研究会 |
PN OCS NS |
開催期間 |
2011-06-23 - 2011-06-24 |
開催地(和) |
和歌山大学 |
開催地(英) |
Wakayama University |
テーマ(和) |
コア・メトロシステム,フォトニックネットワーク・システム,光ネットワーク運用管理,光ネットワーク設計,トラヒックエンジニアリング,シグナリング,GMPLS,ドメイン間経路制御,ネットワーク監視,イーサネット,光伝達網 (OTN),高速インタフェース,光制御(波長変換・スイッチング・ルーチング),光ノード技術,光クロスコネクト(OXC),光分岐挿入多重 (OADM),光多重・分離装置,光信号処理,光スイッチ素子,一般 |
テーマ(英) |
Core/metro system, Photonic network system, Optical network operation and administration, Optical network design, Traffic engineering, Signaling, GMPLS, Inter-domain route control, Network monitoring, Ethernet, Optical transport network(OTN), High-speed interface, Optical control(wavelength conversion/switching/routing), optical node technology, Optical crossconnect(OXC), Optical add/drop multiplexer(OADM), Optical multipxing/demultiplexing equipment, Optical signal processing, Optical swtiching device, etc |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
OCS |
会議コード |
2011-06-PN-OCS-NS |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
波長分解ストークスベクトルの解析によるインサービス光信号品質劣化要因分離 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
In-service identification of signal quality by using wavelength resolved stokes vector analysis |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
竹下 仁士 / Hitoshi Takeshita / タケシタ ヒトシ |
第1著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社システムプラットフォーム研究所 (略称: NEC)
System Platforms Research Laboratories, NEC Corporation (略称: NEC) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
野田 有秀 / Arihide Noda / ノダ アリヒデ |
第2著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社システムプラットフォーム研究所 (略称: NEC)
System Platforms Research Laboratories, NEC Corporation (略称: NEC) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
神田 祥宏 / Yoshihiro Kanda / カンダ ヨシヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
沖電気工業株式会社研究開発センタ コアテクノロジーラボラトリ (略称: OKI)
Research & Development Center, Oki Electric Industry Co. Ltd. (略称: OKI) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
賀川 昌俊 / Masatoshi Kagawa / カガワ マサトシ |
第4著者 所属(和/英) |
沖電気工業株式会社研究開発センタ コアテクノロジーラボラトリ (略称: OKI)
Research & Development Center, Oki Electric Industry Co. Ltd. (略称: OKI) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
村井 仁 / Hitoshi Murai / ムライ ヒトシ |
第5著者 所属(和/英) |
沖電気工業株式会社研究開発センタ コアテクノロジーラボラトリ (略称: OKI)
Research & Development Center, Oki Electric Industry Co. Ltd. (略称: OKI) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2011-06-23 12:30:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
OCS |
資料番号 |
OCS2011-11 |
巻番号(vol) |
vol.111 |
号番号(no) |
no.92 |
ページ範囲 |
pp.1-6 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2011-06-16 (OCS) |
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