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講演抄録/キーワード
講演名 2011-05-13 09:50
同一位置の画像切り替えによる主観評価法の低雑音画像に対する信頼性について
青島孝幸和田直哉半谷精一郎東京理科大
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抄録 (和) 画像劣化の主観評価を行うための一般的な手法として2重刺激連続品質尺度法(Double Stimulus Impairment Scale: 以下DSIS法) があるが,この手法では原画像を記憶した上で評価画像の評点を与えることになるために,特に低劣化・低雑音の画像を評価する際には,評価値の信頼性は十分とはいえなかった.
こうした記憶の曖昧さによる影響を排除することでヒトの視覚特性を明らかにすることを目的とし,2枚の画像を同位置において高速で交互に呈示して違いを評価するASIS(Alternative Stimulus Impairment Scale)法を提案し,色差の検出限界を求めてきた.
本稿では低輝度雑音画像に対する評価をDSIS法とASIS法の双方で主観的に行い,ASIS法の信頼性の高さを明らかにする. 
(英) As one of subjective evaluation methods for image quality, DSIS (Double Stimulus Impairment Scale) is well known and widely used. In the method, however, original image is memorized and the comparison between memorized and degraded image is undertaken to derive MOS (Mean Opinion Score). This affects the reliability of the score in case of slight degradation images or low noise images. For the purpose of removing the ambiguity caused by human visual system, we have proposed ASIS(Alternative Stimulus Impairment Scale) in which a pair of images alternatively presented at same position in high speed rate. In this paper, we will show the reliability of ASIS based on low noise images.
キーワード (和) 画質 / 主観評価 / DSIS / PSNR / MOS / / /  
(英) image quality / subjective evaluation / DSIS / PSNR / MOS / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 35, IMQ2011-2, pp. 7-11, 2011年5月.
資料番号 IMQ2011-2 
発行日 2011-05-06 (IMQ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 IMQ  
開催期間 2011-05-13 - 2011-05-13 
開催地(和) 工学院大学 第一会議室 
開催地(英)  
テーマ(和) イメージ・メディア・クオリティ一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IMQ 
会議コード 2011-05-IMQ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 同一位置の画像切り替えによる主観評価法の低雑音画像に対する信頼性について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Reliability of the Alternative Stimulus Impairment Scale in Evaluating Low Noise Images 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 画質 / image quality  
キーワード(2)(和/英) 主観評価 / subjective evaluation  
キーワード(3)(和/英) DSIS / DSIS  
キーワード(4)(和/英) PSNR / PSNR  
キーワード(5)(和/英) MOS / MOS  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 青島 孝幸 / Takayuki Aoshima / アオシマ タカユキ
第1著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: TUS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 直哉 / Naoya Wada / ワダ ナオヤ
第2著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: TUS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 半谷 精一郎 / Seiichiro Hangai / ハンガイ セイイチロウ
第3著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: TUS)
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講演者
発表日時 2011-05-13 09:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 IMQ 
資料番号 IEICE-IMQ2011-2 
巻番号(vol) IEICE-111 
号番号(no) no.35 
ページ範囲 pp.7-11 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-IMQ-2011-05-06 


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