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講演抄録/キーワード
講演名 2011-03-11 16:35
いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ~ 接触抵抗変動のモデリング ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・池口 徹埼玉大)・堀尾喜彦東京電機大)・澤 孝一郎日本工大NLP2010-196
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で時系列データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形的データ処理を行うことを試みた.本方法に対して,接触抵抗の時系列変動の特徴をある程度抽出していると考えられた. 
(英) The authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried non-linear data processing in addition to usually linear one. It was considered that the process extracted the characteristic of time-sequential fluctuation of the contact resistance from experimental results.
キーワード (和) 劣化現象 / 電気接点 / 加振機構 / 接触抵抗 / 時系列データ / 非線形処理 / /  
(英) degradation phenomenon / electrical contact / oscillating mechanism / contact resistance / time-sequential data / non-linear processing / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 465, NLP2010-196, pp. 187-192, 2011年3月.
資料番号 NLP2010-196 
発行日 2011-03-03 (NLP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード NLP2010-196

研究会情報
研究会 NLP  
開催期間 2011-03-10 - 2011-03-11 
開催地(和) 東京理科大学森戸記念館 
開催地(英) Tokyo University of Science 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NLP 
会議コード 2011-03-NLP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 
サブタイトル(和) 接触抵抗変動のモデリング 
タイトル(英) A Study of Degradatuion Phenomenon of electrical Contacts by some Oscillating Mechanisms 
サブタイトル(英) Modeling about Fluctuation of Contact Resistance 
キーワード(1)(和/英) 劣化現象 / degradation phenomenon  
キーワード(2)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(3)(和/英) 加振機構 / oscillating mechanism  
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(5)(和/英) 時系列データ / time-sequential data  
キーワード(6)(和/英) 非線形処理 / non-linear processing  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 川述 真裕 / Masahiro Kawanobe / カワノベ マサヒロ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 池口 徹 / Tohru Ikeguchi / イケグチ トオル
第7著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 堀尾 喜彦 / Yoshihiko Horio / ホリオ ヨシヒコ
第8著者 所属(和/英) 東京電機大学 (略称: 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称: Tokyo Denki Univ.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第9著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: Nippon Insti. of Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-03-11 16:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 NLP 
資料番号 NLP2010-196 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.465 
ページ範囲 pp.187-192 
ページ数
発行日 2011-03-03 (NLP) 


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