講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-03-11 16:35
いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ~ 接触抵抗変動のモデリング ~ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・池口 徹(埼玉大)・堀尾喜彦(東京電機大)・澤 孝一郎(日本工大) NLP2010-196 |
抄録 |
(和) |
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で時系列データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形的データ処理を行うことを試みた.本方法に対して,接触抵抗の時系列変動の特徴をある程度抽出していると考えられた. |
(英) |
The authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried non-linear data processing in addition to usually linear one. It was considered that the process extracted the characteristic of time-sequential fluctuation of the contact resistance from experimental results. |
キーワード |
(和) |
劣化現象 / 電気接点 / 加振機構 / 接触抵抗 / 時系列データ / 非線形処理 / / |
(英) |
degradation phenomenon / electrical contact / oscillating mechanism / contact resistance / time-sequential data / non-linear processing / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 465, NLP2010-196, pp. 187-192, 2011年3月. |
資料番号 |
NLP2010-196 |
発行日 |
2011-03-03 (NLP) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
NLP2010-196 |