講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-11-05 15:30
[ポスター講演]標本点ごとにカーネルパラメータを学習するサポートベクターマシン ○井之上直矢・山下幸彦(東工大) IBISML2010-95 |
抄録 |
(和) |
非対称カーネルSVM においては,内積の中の高次元ヒルベルト空間への2つの写像を異なるものにすることにより,未知パターンの特徴空間への写像は固定し,学習パターンの写像を標本点ごとに変化させることができる.部分空間制約SVM によって,学習アルゴリズムに交差検定の原理を導入することが可能である.そこで両者を組み合わせることにより標本点ごとに異なるカーネルパラメータに対する重みを自動的に学習するSVM を構成する. |
(英) |
In the support vector machine (SVM) with an asymmetric kernel function, two mappings in the inner product to a high-dimensional Hilbert space can be different. Therefore, the mapping for the training patterns can be changed, and the mapping for an unknown pattern is fixed. The principle of the cross validation can be introduced into the learning algorithm of the subspace restriction SVM. By combining the two, SVM which can automatically learn weights to kernel parameters for each sample point is proposed. |
キーワード |
(和) |
パターン認識 / サポートベクターマシン / カーネル法 / / / / / |
(英) |
Pattern recognition / Support vector machine / Kernel method / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 265, IBISML2010-95, pp. 265-270, 2010年11月. |
資料番号 |
IBISML2010-95 |
発行日 |
2010-10-28 (IBISML) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
IBISML2010-95 |
研究会情報 |
研究会 |
IBISML |
開催期間 |
2010-11-04 - 2010-11-06 |
開催地(和) |
東大生産研 |
開催地(英) |
IIS, Univ. of Tokyo |
テーマ(和) |
IBIS 2010 (情報論的学習理論ワークショップ) |
テーマ(英) |
IBIS 2010 (Workshop on Information-based Induction Sciences) |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
IBISML |
会議コード |
2010-11-IBISML |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
標本点ごとにカーネルパラメータを学習するサポートベクターマシン |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
SVM with weight learning for kernel parameters of each sample |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
パターン認識 / Pattern recognition |
キーワード(2)(和/英) |
サポートベクターマシン / Support vector machine |
キーワード(3)(和/英) |
カーネル法 / Kernel method |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井之上 直矢 / Naoya Inoue / イノウエ オヤ |
第1著者 所属(和/英) |
東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: TOKYO TECH) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山下 幸彦 / Yukihiko Yamashita / |
第2著者 所属(和/英) |
東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: TOKYO TECH) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2010-11-05 15:30:00 |
発表時間 |
180分 |
申込先研究会 |
IBISML |
資料番号 |
IBISML2010-95 |
巻番号(vol) |
vol.110 |
号番号(no) |
no.265 |
ページ範囲 |
pp.265-270 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2010-10-28 (IBISML) |