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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-10-15 14:35 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(13) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大）  EMD2010-65 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-65 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，摺動接触機構を用いて，摩擦力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ約2500万回の実験を行い，抵抗値の増加を測定した．さらに，接触抵抗の時系列変動における接点の相対変位に与えるパラメータ(摺動振幅・摩擦力)の検討をした．また，モータ等の駆動電流に相当する電流(約500mA)を通電した時の系列変動についても検討した．摺動振幅・摩擦力に加えて，通電電流を考慮することで，接触抵抗の変動にfrettingやslidingのモデルを適用する必要性が示唆された． |
| （英） | Authors measured increasing resistances on electrical contacts by means of sliding contact mechanism respectively on the conditions that (1) frictional forces were 2.0N or 0.3N and (2) sliding amplitudes were ±5.0μm or ±10.0μm under the operation number of about 25milions. It was studied that there were the parameters (frictional force and sliding amplitude) caused the relative displacements of the electrical contacts on the time-sequential fluctuations of the contact resistances. They measured increasing resistances on electrical contacts when current was 500mA. And it was suggested that the fretting corrosion model or sliding contact one would be indispensable to applied to the fluctuation of contact resistance in consideration of sliding amplitudes, frictional force and current. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触機構 / 摺動振幅 / 摩擦力 / 電流 / |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact mechanism / sliding amplitude / frictional force / current / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 230, EMD2010-65, pp. 13-18, 2010年10月. | |
| 資料番号 | EMD2010-65 | |
| 発行日 | 2010-10-08 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2010-65 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-65 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2010-10-15 - 2010-10-15 |
| 開催地（和） | NTT武蔵野研究開発センタ |
| 開催地（英） | NTT Musashino Research and Development Center |
| テーマ（和） | 一般 (共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会） |
| テーマ（英） | Electromechanical Devices |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-10-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗について(13) |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance (13) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 摺動接触機構 / sliding contact mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 摺動振幅 / sliding amplitude |
| キーワード(6)（和/英） | 摩擦力 / frictional force |
| キーワード(7)（和/英） | 電流 / current |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第6著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 慶大名誉教授/日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-10-15 14:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2010-65 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.230 |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-10-08 (EMD) |
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