講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-08-27 09:00
高信頼性SSD向けECC符号長の動的最適化手法 ○田中丸周平(東大)・江角 淳・伊東充吉・李 凱(シグリード)・竹内 健(東大) SDM2010-138 ICD2010-53 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2010-138 ICD2010-53 |
抄録 |
(和) |
高信頼性SSD向けECC符号長の動的最適化手法を提案する.本提案はSSDのエラー数や書き換え回数をモニターすることでECCの符号長を512バイト,1Kバイト, 2Kバイト, 4Kバイト…32Kバイトと徐々に長くしてゆく手法である.提案の手法による長いECCの符号長によってエラー訂正後の不良率を抑える.1つの符号後におけるパリティビットの割合がどのECCの符号長においても同じなので余分なメモリ領域は必要ではなく,そのため製造後の信頼性増加をコスト増なしに実現できる.32Kバイトという長いECCの符号長に固定した場合に比べて提案の手法のベストエフォート型動作によって低消費電力を実現できる. |
(英) |
A dynamic codeword transition ECC scheme is proposed for highly reliable solid-state drives, SSDs. By monitoring the error number or the write / erase cycles, the ECC codeword dynamically increases from 512Byte (+parity) to 1KByte, 2KByte, 4KByte…32KByte. The proposed ECC with a larger codeword decreases the failure rate after ECC. Because the parity rate per codeword is the same in each ECC codeword, no additional memory area is required so that the reliability of SSD is improved after the manufacturing without cost penalty. Compared with the conventional ECC with the fixed large 32KByte codeword, the proposed scheme achieves a lower power consumption by introducing the “best-effort” type operation. |
キーワード |
(和) |
ECC / エラー訂正符号 / SSD / NANDフラッシュメモリ / / / / |
(英) |
ECC / Error correcting code / SSD / NAND Flash memory / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 183, ICD2010-53, pp. 77-82, 2010年8月. |
資料番号 |
ICD2010-53 |
発行日 |
2010-08-19 (SDM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
SDM2010-138 ICD2010-53 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2010-138 ICD2010-53 |
研究会情報 |
研究会 |
ICD SDM |
開催期間 |
2010-08-26 - 2010-08-27 |
開催地(和) |
札幌エルプラザ内男女共同参画センター |
開催地(英) |
Sapporo Center for Gender Equality |
テーマ(和) |
低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
テーマ(英) |
Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2010-08-ICD-SDM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
高信頼性SSD向けECC符号長の動的最適化手法 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Post-manufacturing, 17-times Acceptable Raw Bit Error Rate Enhancement, Dynamic Codeword Transition ECC Scheme for Highly Reliable Solid-State Drives, SSDs |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
ECC / ECC |
キーワード(2)(和/英) |
エラー訂正符号 / Error correcting code |
キーワード(3)(和/英) |
SSD / SSD |
キーワード(4)(和/英) |
NANDフラッシュメモリ / NAND Flash memory |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田中丸 周平 / Shuhei Tanakamaru / タナカマル シュウヘイ |
第1著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
江角 淳 / Atsushi Esumi / エスミ アツシ |
第2著者 所属(和/英) |
シグリード (略称: シグリード)
SIGLEAD (略称: SIGLEAD) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
伊東 充吉 / Mitsuyoshi Ito / イトウ ミツヨシ |
第3著者 所属(和/英) |
シグリード (略称: シグリード)
SIGLEAD (略称: SIGLEAD) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
李 凱 / Kai Li / リ カイ |
第4著者 所属(和/英) |
シグリード (略称: シグリード)
SIGLEAD (略称: SIGLEAD) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン |
第5著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2010-08-27 09:00:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
SDM2010-138, ICD2010-53 |
巻番号(vol) |
vol.110 |
号番号(no) |
no.182(SDM), no.183(ICD) |
ページ範囲 |
pp.77-82 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2010-08-19 (SDM, ICD) |
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