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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-06-25 16:20 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について（12） ～ 和田真一・○越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大）  EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，摺動接触機構を用いて，摺動力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ約2500万回の実験を行い，抵抗値の増加を測定した．さらに，接触抵抗の時系列変動における接点の相対変位に与えるパラメータ(摺動振幅・摺動力)の検討をした．接点の相対変位に与えるパラメータ(摺動振幅・摺動力)に対して，抵抗値変動開始時期と消費エネルギーにおいては相関が見られ，摺動振幅と摺動力との相関に関して，接触面における堆積物の動的平衡を考慮した酸化物蓄積をも考慮したモデルの必要性が示唆された． |
| （英） | Authors measured increasing resistances on electrical contacts by means of sliding contact mechanism respectively on the conditions that (1) frictional forces were 2.0N or 0.3N and (2) sliding amplitudes were ±5.0μm or ±10.0μm under the operation number of about 25milions. It was suggested that there was potentiality to make a model of the tendencies of contact variations in the primary stages in the above cases. It was studied that there were the parameters (sliding force and sliding amplitude) caused the relative displacements of the electrical contacts on the time-sequential fluctuations of the contact resistances. And it was suggested that the fretting corrosion model or sliding contact one would be applied to the fluctuation of contact resistance. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触機構 / 摺動振幅 / 摺動力 / / |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact mechanism / sliding amplitude / sliding force / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 99, EMD2010-14, pp. 31-36, 2010年6月. | |
| 資料番号 | EMD2010-14 | |
| 発行日 | 2010-06-18 (EMD, CPM, OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD CPM OME |
| 開催期間 | 2010-06-25 - 2010-06-25 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 地下3階研修2号室 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 材料デバイスサマーミーティング |
| テーマ（英） | Summer Meeting of materials and devices |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-06-EMD-CPM-OME |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗について（12） |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance 12 |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 摺動接触機構 / sliding contact mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 摺動振幅 / sliding amplitude |
| キーワード(6)（和/英） | 摺動力 / sliding force |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第7著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学名誉教授/日本工業大学 (略称： 慶大名誉教授/日本工大) Professor Emeritus of Keio University/Nippon Institute of Technology (略称： former Keio Univ/NIT) |
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| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-06-25 16:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2010-14, CPM2010-28, OME2010-33 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.99(EMD), no.100(CPM), no.101(OME) |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-06-18 (EMD, CPM, OME) |
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