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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-01-23 15:20 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その3) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大）  EMD2008-116 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2008-116 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討し，さらに，本機構の加振特性をモデル化した．本機構を用いて，総加振回数が約4000万回の加振実験を行った．加振開始後一定の期間を経ると，接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった．この傾向は実験終了まで持続した．次に，電気接点の接触圧を小さくしたコネクタを用いて総加振回数が約4000万回の加振実験を行った．対照として，摺動機構による総摺動回数が約1400万回の摺動実験を行った．摺動開始後約10万回後に接触抵抗が上昇しその後，約200Ωとなった．後者2つに関して，その操作方法及び操作回数に相違があるものの，接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた．これら３種類の接触抵抗の変動に対してFretting Corrosionモデルを適用し検討することで，本加振機構及び摺動の微小振動が接触抵抗に与える影響についてより現実的に考察できる可能性が示唆された． |
| （英） | The authors have developed the hammering oscillating mechanism which could give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance, and the characteristics of the mechanism has been modeled by PC. By the mechanism the authors made experiments with total operation’s number, about 40 millions. After the term was passed, the contact resistance increased in number to about 200Ω . The tendency continued till the end. Next by using the connectors with smaller contact’s force, the authors made experiments with the same operation’s number. On the contrary, by the sliding contact mechanism the authors made experiments with total operation’s number of 14 millions. After starting, the contact resistance increased to about 200Ω . Although the latter two mechanisms are completely different (in methods, numbers, etc ), the results of two measurements were almost similar on the oscillating phenomenon. It was suggested that the three mechanisms could detect the more real degradation phenomenon on contacts with the influences of micro-vibration by applying the model of fretting corrosion to the fluctuation of contact resistance. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 加振機構 / 接触抵抗 / 摺動機構 / ハンマリング加振機構 / / / |
| （英） | electrical contact / oscillating mechanism / contact resistance / sliding mechanism / hammering oscillating mechanism / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 404, EMD2008-116, pp. 15-20, 2009年1月. | |
| 資料番号 | EMD2008-116 | |
| 発行日 | 2009-01-16 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2008-116 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2008-116 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2009-01-23 - 2009-01-23 |
| 開催地（和） | ゆとりうむ日立（横浜） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2009-01-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗について(その3) |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | for Contact Resistance (III) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 加振機構 / oscillating mechanism |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 摺動機構 / sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC SYSTEM CO., LTD. (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC SYSTEM CO., LTD. (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC SYSTEM CO., LTD. (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC SYSTEM CO., LTD. (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC SYSTEM CO., LTD. (略称： TMC System Co., Ltd.,) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第6著者 所属（和/英） | 慶応大学 (略称： 慶大) Keio University K2 Campus, (略称： Keio Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2009-01-23 15:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2008-116 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.404 |
| ページ範囲 | pp.15-20 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-01-16 (EMD) |
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