お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2008-01-25 14:00
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 測定データとその考察 ~
和田真一園田健人天尾裕士峯岸寛人越田圭治菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎古賀 圭西岡 亮慶大EMD2007-110 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-110
抄録 (和) 電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約750回超より,接触抵抗は殆ど200Ω以上を示した.1700万回超より,接触抵抗値は,200Ωと1000Ωの間を変動した.約4500万回の加振によって,1000Ωの接触抵抗が測定された.比較として、電気接点に微小摺動を与えうる機構を開発した.摺動回数10万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,その後,最大値約400Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた. 
(英) We have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance. Over 7.5 millions of hammering, the resistance almost was 200Ω. And over 17 millions of hammering, it fluctuated between 200Ω and 1000Ω. By 45 millions of hammering it was almost 1000Ω.On the other hand, we also developed the mechanism which gives micro-sliding to electrical contacts for comparison. This mechanism could detect the degradation phenomenon on these by influences of repeated sliding operations. Over 100 thousand of sliding, the resistance of the contacts started increasing, and after that the resistance fluctuated in between 20Ω and 400Ω. Although the two mechanisms are completely different( in methods, numbers, etc ), the results of two tests were almost similar on the oscillating phenomenon.
キーワード (和) 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 / /  
(英) electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 457, EMD2007-110, pp. 7-12, 2008年1月.
資料番号 EMD2007-110 
発行日 2008-01-18 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2007-110 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-110

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2008-01-25 - 2008-01-25 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2008-01-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 測定データとその考察 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism 
サブタイトル(英) experimental data and discussions 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 加振機構 / oscillating mechanism  
キーワード(3)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(5)(和/英) 摺動接触 / sliding contact  
キーワード(6)(和/英) 摺動機構 / sliding mechanism  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 天尾 裕士 / Hiroshi Amao / アマオ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 峯岸 寛人 / Hiroto Minegishi / ミネギシ ヒロト
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第8著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 古賀 圭 / Kei Koga / コガ ケイ
第9著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 西岡 亮 / Ryo Nishioka / ニシオカ リョウ
第10著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2008-01-25 14:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2007-110 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.457 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2008-01-18 (EMD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会