講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-01-25 14:00
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 測定データとその考察 ~ ○和田真一・園田健人・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎・古賀 圭・西岡 亮(慶大) EMD2007-110 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-110 |
抄録 |
(和) |
電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約750回超より,接触抵抗は殆ど200Ω以上を示した.1700万回超より,接触抵抗値は,200Ωと1000Ωの間を変動した.約4500万回の加振によって,1000Ωの接触抵抗が測定された.比較として、電気接点に微小摺動を与えうる機構を開発した.摺動回数10万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,その後,最大値約400Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた. |
(英) |
We have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering and studied the influences of a micro-oscillating on contact resistance. Over 7.5 millions of hammering, the resistance almost was 200Ω. And over 17 millions of hammering, it fluctuated between 200Ω and 1000Ω. By 45 millions of hammering it was almost 1000Ω.On the other hand, we also developed the mechanism which gives micro-sliding to electrical contacts for comparison. This mechanism could detect the degradation phenomenon on these by influences of repeated sliding operations. Over 100 thousand of sliding, the resistance of the contacts started increasing, and after that the resistance fluctuated in between 20Ω and 400Ω. Although the two mechanisms are completely different( in methods, numbers, etc ), the results of two tests were almost similar on the oscillating phenomenon. |
キーワード |
(和) |
電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 / / |
(英) |
electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 457, EMD2007-110, pp. 7-12, 2008年1月. |
資料番号 |
EMD2007-110 |
発行日 |
2008-01-18 (EMD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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