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講演抄録/キーワード
講演名 2007-12-21 13:55
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗の変化 ~
和田真一園田健人天尾裕士越田圭治高橋康夫菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎古賀 圭西岡 亮慶大EMD2007-102 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-102
抄録 (和) 電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約350万回超の頃から,換算接触抵抗値が増加傾向となり,約750万回超からは,殆ど200Ω超であった.1700万回超は,最大値約1000Ωから最小値約200Ωの間を変動した.また,本加振装置を数学的なモデル化を実施し,PCでシミュレーションを行なった.一方、比較として、摺動接触機構を持つ装置により連続摺動によって電気接点の劣化現象を測定することができた.摺動回数10万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,換算接触抵抗値が,最大値約400Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた. 
(英) We have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering and studied the influences of a micro-oscillating on these. Over 3.5 millions of hammering, the resistance of the contacts started increasing. Over 7.5 millions of hammering, the resistance almost was 200Ω. And over 17 millions of hammering, this fluctuated between 200Ω and 1000Ω. And the mechanism was analized mathematically and simulated by PC. On the other hand, we also developed the mechanism which gives sliding to electrical contacts for comparison. This mechanism could detect the degradation phenomenon on these by influences of repeated sliding operations. Over 100 thousand of sliding, the resistance of the contacts started increasing, and after that the resistance fluctuated in between 20Ω and 400Ω. Although the two mechanisms are completely different( in methods, numbers, etc ), the results of two test were almost similar on the oscillational phenomenon.
キーワード (和) 電気接点 / 加振機構 / 微小振動 / 接触抵抗 / 摺動接触 / 摺動機構 / モデリング /  
(英) electrical contact / oscillating mechanism / micro-oscillation / contact resistance / sliding contact / sliding mechanism / modeling /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 408, EMD2007-102, pp. 11-16, 2007年12月.
資料番号 EMD2007-102 
発行日 2007-12-14 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2007-102 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2007-102

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2007-12-21 - 2007-12-21 
開催地(和) 日本航空電子工業株式会社 
開催地(英) Japan Aviation Electronics Industry,Limited 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2007-12-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗の変化 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism 
サブタイトル(英) The variation of contact resistance 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 加振機構 / oscillating mechanism  
キーワード(3)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(5)(和/英) 摺動接触 / sliding contact  
キーワード(6)(和/英) 摺動機構 / sliding mechanism  
キーワード(7)(和/英) モデリング / modeling  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 天尾 裕士 / Hiroshi Amao / アマオ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 康夫 / Yasuo Takahashi / タカハシ ヤスオ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC SYSTEM CO., LTD. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第8著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 古賀 圭 / Kei Koga / コガ ケイ
第9著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 西岡 亮 / Ryo Nishioka / ニシオカ リョウ
第10著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-12-21 13:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2007-102 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.408 
ページ範囲 pp.11-16 
ページ数
発行日 2007-12-14 (EMD) 


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