講演抄録/キーワード |
講演名 |
2007-11-22 09:00
SRAMベースFPGAにおける耐ソフトエラーLUT構成法 ○里山宏平・中田 尚・中西正樹・山下 茂・中島康彦(奈良先端大) RECONF2007-43 |
抄録 |
(和) |
近年,プロセス微細化によりソフトエラーの問題がさらに深刻化するといわれている.特にSRAMにおいてソフトエラーの問題は深刻となってきており,様々な対策が講じられてきている.本稿では,SRAMベースFPGAの論理を実現するLUTを構成するメモリにXORの性質を利用し,3重化の多数決論理を2倍のメモリコストで実現する手法を提案する.本提案はランダム1ビットエラーの修正が可能であり,エラー耐性についても3重化に近い性能であることを確認した. |
(英) |
Recently, soft error becomes a serious problem as the process shrinks. Especially, SRAMs seriously suffer from soft error, and thus various techniques have been proposed to deal with it. In this paper, we proposes a technique, which we call "XOR swap," to achieve the majority voting of the TMR (Triple Module Redundancy) by using only the double memory cost. This technique can correct arbitrary random 1-bit error, and we confirmed that the error tolerance by the proposed technique is almost the same as that of TMR. |
キーワード |
(和) |
ソフトエラー / FPGA / LUT / TMR / / / / |
(英) |
Soft Error / FPGA / LUT / TMR / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 342, RECONF2007-43, pp. 1-6, 2007年11月. |
資料番号 |
RECONF2007-43 |
発行日 |
2007-11-15 (RECONF) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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RECONF2007-43 |