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講演抄録/キーワード
講演名 2007-11-22 09:00
SRAMベースFPGAにおける耐ソフトエラーLUT構成法
里山宏平中田 尚中西正樹山下 茂中島康彦奈良先端大RECONF2007-43
抄録 (和) 近年,プロセス微細化によりソフトエラーの問題がさらに深刻化するといわれている.特にSRAMにおいてソフトエラーの問題は深刻となってきており,様々な対策が講じられてきている.本稿では,SRAMベースFPGAの論理を実現するLUTを構成するメモリにXORの性質を利用し,3重化の多数決論理を2倍のメモリコストで実現する手法を提案する.本提案はランダム1ビットエラーの修正が可能であり,エラー耐性についても3重化に近い性能であることを確認した. 
(英) Recently, soft error becomes a serious problem as the process shrinks. Especially, SRAMs seriously suffer from soft error, and thus various techniques have been proposed to deal with it. In this paper, we proposes a technique, which we call "XOR swap," to achieve the majority voting of the TMR (Triple Module Redundancy) by using only the double memory cost. This technique can correct arbitrary random 1-bit error, and we confirmed that the error tolerance by the proposed technique is almost the same as that of TMR.
キーワード (和) ソフトエラー / FPGA / LUT / TMR / / / /  
(英) Soft Error / FPGA / LUT / TMR / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 342, RECONF2007-43, pp. 1-6, 2007年11月.
資料番号 RECONF2007-43 
発行日 2007-11-15 (RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード RECONF2007-43

研究会情報
研究会 VLD CPSY RECONF DC IPSJ-SLDM IPSJ-ARC  
開催期間 2007-11-20 - 2007-11-22 
開催地(和) 北九州国際会議場 
開催地(英) Kitakyushu International Conference Center 
テーマ(和) デザインガイア2007 ―VLSI設計の新しい大地を考える研究会― 
テーマ(英) Design Gaia 2007 ---A New Frontier in VLSI Design--- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 RECONF 
会議コード 2007-11-VLD-CPSY-RECONF-DC-IPSJ-SLDM-IPSJ-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SRAMベースFPGAにおける耐ソフトエラーLUT構成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Designing Soft Error Tolerant LUTs of SRAM-based FPGAs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / Soft Error  
キーワード(2)(和/英) FPGA / FPGA  
キーワード(3)(和/英) LUT / LUT  
キーワード(4)(和/英) TMR / TMR  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 里山 宏平 / Kohei Satoyama / サトヤマ コウヘイ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 中田 尚 / Takashi Nakada / ナカダ タカシ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中西 正樹 / Masaki Nakanishi / ナカニシ マサキ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 山下 茂 / Shigeru Yamashita / ヤマシタ シゲル
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 康彦 / Yasuhiko Nakashima / ナカシマ ヤスヒコ
第5著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-11-22 09:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 RECONF 
資料番号 RECONF2007-43 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.342 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2007-11-15 (RECONF) 


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