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講演抄録/キーワード
講演名 2007-11-21 14:20
人工物メトリック・システムにおける耐クローン性について ~ どのように耐クローン性を評価するか ~
田村裕子宇根正志日本銀行ISEC2007-91 OIS2007-63
抄録 (和) 人工物メトリクスは,製造者さえも制御困難とみられる物理的特徴を利用して人工物の認証を行う技術であり,人工物の偽造防止技術として利用可能である.こうしたセキュリティ特性は「耐クローン性」と呼ばれ,その評価がいくつかの提案方式において行われている.しかし,既存研究では,評価の対象が区々であり評価結果の比較が困難であるといった問題がある.本稿では,こうした課題を明確にしたうえで,望ましい評価方法の開発に向けた検討項目を示す.具体的には,5つの既知の攻撃をそれぞれ4つの行為に分割して各行為の実行可能性を検討し,耐クローン性の評価方法に関する今後の検討課題を示す. 
(英) Artifact-metrics is a technique to authenticate an artifact by using its physical feature that even the manufacturer can hardly control, and can be used as a counterfeit deterrence in the artifact. Such a security characteristic is called ``clone resistance,'' and has been evaluated in several artifact-metric systems previously proposed. However, previous results of the clone resistance evaluation have open problems. For instance, it is difficult to compare the evaluation results because objectives of the evaluation are different. In this paper, we clarify these problems and show items to be discussed for the development of a useful evaluation method. Concretely, we divide each of five known attacks against an artifact-metric system into four actions and examine
the feasibility in each of the actions. Furthermore, we present future research topics to improve an evaluation method for the clone resistance.
キーワード (和) 偽造防止技術 / 人工物メトリクス / 耐クローン性 / 認証 / 評価尺度 / / /  
(英) artifact-metrics / authentication / clone resistance / counterfeit deterrence / evaluation measure / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 345, ISEC2007-91, pp. 15-22, 2007年11月.
資料番号 ISEC2007-91 
発行日 2007-11-14 (ISEC, OIS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ISEC2007-91 OIS2007-63

研究会情報
研究会 ISEC LOIS  
開催期間 2007-11-21 - 2007-11-22 
開催地(和) 神戸大学 
開催地(英) Kobe University 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ISEC 
会議コード 2007-11-ISEC-OIS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 人工物メトリック・システムにおける耐クローン性について 
サブタイトル(和) どのように耐クローン性を評価するか 
タイトル(英) Clone resistance in artifact-metric systems 
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英) 偽造防止技術 / artifact-metrics  
キーワード(2)(和/英) 人工物メトリクス / authentication  
キーワード(3)(和/英) 耐クローン性 / clone resistance  
キーワード(4)(和/英) 認証 / counterfeit deterrence  
キーワード(5)(和/英) 評価尺度 / evaluation measure  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田村 裕子 / Yuko Tamura / タムラ ユウコ
第1著者 所属(和/英) 日本銀行 (略称: 日本銀行)
Bank of Japan (略称: BOJ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宇根 正志 / Masashi Une / ウネ マサシ
第2著者 所属(和/英) 日本銀行 (略称: 日本銀行)
Bank of Japan (略称: BOJ)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-11-21 14:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ISEC 
資料番号 ISEC2007-91, OIS2007-63 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.345(ISEC), no.347(OIS) 
ページ範囲 pp.15-22 
ページ数
発行日 2007-11-14 (ISEC, OIS) 


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