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| 講演名 | 2007-05-18 10:35 NISTの乱数検定に含まれる最長連検定の修正 ○濱野健二（東大） 技報オンラインサービス実施中（通信ソサイエティのみ）  |
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| 抄録 | （和） | 乱数性が良好であることが知られているブロック暗号DESが生成する乱数系列を，米国商務省標準技術局の乱数検定（NIST SP800-22）に含まれる最長連検定を利用して検定したとき，乱数系列のランダム性が棄却される結果が得られた．本稿では，NISTの最長連検定で使用されている最長連の出現確率が近似値であることを示す．次に，乱数の１系列の長さを100万ビットとする通常の入力では，精密な検定を行えないことを指摘する．最長連の出現確率を本稿で新たに導出した正確な値に変更し，乱数の１系列の長さを400万ビット以上にすれば，ランダム性が棄却されないようになることが分かった．DESの代わりにAESを使用したときも同様の結果が得られた． |
| （英） | When random sequences taken from the block cipher DES, which is known to be a good random generator, were tested using “test for the longest run of ones in a block” included in NIST randomness test suite (NIST SP800-22), we have observed that the null hypothesis that the given sequences seem to be random was rejected. In this report, we show that occurrence probabilities of the longest run of ones in a block used in the NIST randomness test suite are approximate values. Next, we point out that sequence length 1Mbits, which is widely used sequence length for randomness testing, should not be used for accurate randomness testing. When the occurrence probabilities used in the NIST randomness test suite were replaced by our new correct values shown in this report and sequence length was set to longer than 4Mbits, random sequences taken from DES became to pass the test. The same result was obtained when the block cipher AES was used instead of DES as a random number generator. | |
| キーワード | （和） | 最長連検定 / 乱数検定 / NIST SP800-22 / / / / / |
| （英） | Test for the Longest Run of Ones in a Block / randomness test / NIST SP800-22 / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 44, ISEC2007-3, pp. 17-21, 2007年5月. | |
| 資料番号 | ISEC2007-3 | |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC |
| 開催期間 | 2007-05-18 - 2007-05-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2007-05-ISEC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | NISTの乱数検定に含まれる最長連検定の修正 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Correction of "Test for the Longest Run of Ones in a Block" Included in NIST Randomness Test Suite |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 最長連検定 / Test for the Longest Run of Ones in a Block |
| キーワード(2)（和/英） | 乱数検定 / randomness test |
| キーワード(3)（和/英） | NIST SP800-22 / NIST SP800-22 |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 濱野 健二 / Kenji Hamano / ハマノ ケンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： The Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 1 |
| 発表日時 | 2007-05-18 10:35:00 |
| 発表時間 | 25 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | IEICE-ISEC2007-3 |
| 巻番号（vol） | IEICE-107 |
| 号番号（no） | IEICE-ISEC-44 |
| ページ範囲 | pp.17-21 |
| ページ数 | IEICE-5 |
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