講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-03-17 15:25
NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について ○奥富秀俊・金田 学(東芝情報システム)・山口健二・中村勝洋(千葉大) |
抄録 |
(和) |
統計的な乱数性能の評価手段としてNIST乱数検定が広く使われている.本稿では,NIST乱数検定のPROPORTION(合格比率)評価における疑問点について触れ,より明確な評価を与えるためには,検定を多数回繰り返す必要があるとした上で,実測値が二項分布に適合しているか否かを見るといった評価法を検討し,該評価法を用いて今日の代表的な乱数生成法であるDESとSHA-1を利用した生成法の評価を実施した.その結果,該評価法の有用性を示せたので,今後の課題も含めて報告する. |
(英) |
NIST randomness test is widely used today as statistical evaluation method of the randomness. In this paper, at first, we describe some improper points in the evaluation of the success proportion in the NIST randomness test and next we propose more clear evaluation method in the PROPORTION. The method we propose is achieved repeating the NIST randomness test as many times and observing the degree of the matching between the measurement value's distribution and theoretical distribution (binominal distribution). Using this evaluation method, we show the evaluated results in the success proportion about the sequences generated by DES and SHA-1. Finally, we describe the usefulness of the proposed method using these results. |
キーワード |
(和) |
NIST SP.800-22 / 乱数検定 / PROPORTION(合格比率) / 二項分布 / / / / |
(英) |
NIST SP.800-22 / randomness test / proportion / binomial distribution / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 664, ISEC2005-165, pp. 79-84, 2006年3月. |
資料番号 |
ISEC2005-165 |
発行日 |
2006-03-10 (IT, ISEC, WBS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
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