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講演抄録/キーワード
講演名 2005-10-27 13:55
同軸型電界プローブの非侵襲条件の検討(その2)
春日貴志井上 浩秋田大エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2005-93
抄録 (和) PCB近傍の電界分布を非侵襲的に計測できる電界プローブを開発することが急務である.本研究では,セミリジッド型同軸電界プローブの長さと終端負荷を変えた場合の非侵襲条件について検討した.PCB上に配置された電界プローブ終端の電圧をFDTD解析によって求め,検出した電界分布を理論的な電界と比較を行って,非侵襲条件を検討した.その結果,電界プローブの外被導体の長さを10~mm,$1~\mathrm{k}\Omega$の抵抗によりプローブを終端したときに,理論的な電界分布と一致することが明らかとなった.この条件は,周波数や基板の位置によっては影響されないことも示された.一方,外被導体の長い電界プローブや,同軸ケーブルの外被導体を電界プローブに接続することにより,電界分布形状が変化したことから,外被導体は電界分布計測結果に重大な影響を及ぼすことが明らかとなった. 
(英) It is desired to develop the non-invasive electric field probe that can measure the near electric field on the PCB. Conditions for the non-invasiveness of a coaxial type electric field probe are discussed about the length and the termination. The electric field distributions on the PCB are analyzed by FDTD method and compared with theoretical electric field distribution. When the length of the outer conductor of cable and terminal impedance are changed, the conditions for the invasiveness are also discussed. The electric field distribution detected by the electric field probe that the length of outer conductor is 10~mm and terminal resistance is larger than $1~\mathrm{k}\Omega$ is coincided with theoretical one. It is demonstrated that the non-invasiveness condition can be applied under the different frequency and position. As the electric field distribution is changed by the length of the electric probe, the cable outer conductor influences the electric field distribution.
キーワード (和) 近傍電界 / 電界プローブ / PCB / 非侵襲 / FDTD法 / / /  
(英) Near electric field / Electric field probe / PCB / Non-invasiveness / FDTD method / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 366, EMCJ2005-87, pp. 41-46, 2005年10月.
資料番号 EMCJ2005-87 
発行日 2005-10-20 (EMCJ, MW) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2005-93

研究会情報
研究会 EMCJ MW  
開催期間 2005-10-27 - 2005-10-28 
開催地(和) 秋田大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリ(VBL)2階大セミナー室 
開催地(英) Akita University 
テーマ(和) マイクロ波EMC/一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2005-10-EMCJ-MW 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 同軸型電界プローブの非侵襲条件の検討(その2) 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Condition for the Non-Invasiveness of Coaxial Type Electric Field Probe (The Second) 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 近傍電界 / Near electric field  
キーワード(2)(和/英) 電界プローブ / Electric field probe  
キーワード(3)(和/英) PCB / PCB  
キーワード(4)(和/英) 非侵襲 / Non-invasiveness  
キーワード(5)(和/英) FDTD法 / FDTD method  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 春日 貴志 / Takashi Kasuga / カスガ タカシ
第1著者 所属(和/英) 秋田大学 (略称: 秋田大)
Akita University (略称: Akita Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 浩 / Hiroshi Inoue / イノウエ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) 秋田大学 (略称: 秋田大)
Akita University (略称: Akita Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2005-10-27 13:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2005-87, MW2005-93 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.366(EMCJ), no.368(MW) 
ページ範囲 pp.41-46 
ページ数
発行日 2005-10-20 (EMCJ, MW) 


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