お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2005-09-15 15:00
Modeling the Effective Capacitance of Interconnect Loads for Predicting CMOS Gate Slew
Zhangcai HuangWaseda Univ.)・Atsushi KurukawaSTAC)・Yasuaki InoueWaseda Univ.
抄録 (和) In deep submicron designs, predicting
gate slews and delays for interconnect loads is vitally
important for Static Timing Analysis (STA). The effective capacitance Ceff concept is usually used to calculate the gate delay of interconnect loads. Many Ceff algorithms have been proposed to compute gate delay
of interconnect loads. However, less work has been
done to develop a Ceff algorithm which can accurately
predict gate slew. In this paper, we propose a novel
method for calculating the Ceff of interconnect load
for gate slew. The simulation results demonstrate a
significant improvement in accuracy. 
(英) In deep submicron designs, predicting
gate slews and delays for interconnect loads is vitally
important for Static Timing Analysis (STA). The effective capacitance Ceff concept is usually used to calculate the gate delay of interconnect loads. Many Ceff algorithms have been proposed to compute gate delay
of interconnect loads. However, less work has been
done to develop a Ceff algorithm which can accurately
predict gate slew. In this paper, we propose a novel
method for calculating the Ceff of interconnect load
for gate slew. The simulation results demonstrate a
significant improvement in accuracy.
キーワード (和) Static Timing Analysis / gate slew / interconnect load / effective capacitance / / / /  
(英) Static Timing Analysis / gate slew / interconnect load / effective capacitance / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 276, NLP2005-44, pp. 31-36, 2005年9月.
資料番号 NLP2005-44 
発行日 2005-09-08 (CAS, NLP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
PDFダウンロード

研究会情報
研究会 CAS NLP  
開催期間 2005-09-15 - 2005-09-16 
開催地(和) 長岡技術科学大学 
開催地(英) Nagaoka Univ. of Technology 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) general 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NLP 
会議コード 2005-09-CAS-NLP 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Modeling the Effective Capacitance of Interconnect Loads for Predicting CMOS Gate Slew 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Static Timing Analysis / Static Timing Analysis  
キーワード(2)(和/英) gate slew / gate slew  
キーワード(3)(和/英) interconnect load / interconnect load  
キーワード(4)(和/英) effective capacitance / effective capacitance  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Zhangcai Huang / Zhangcai Huang /
第1著者 所属(和/英) Waseda University (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Atsushi Kurukawa / Atsushi Kurukawa /
第2著者 所属(和/英) The Semiconductor Technology Academic Research Center (略称: STAC)
The Semiconductor Technology Academic Research Center (略称: STAC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Yasuaki Inoue / Yasuaki Inoue /
第3著者 所属(和/英) Waseda University (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2005-09-15 15:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 NLP 
資料番号 CAS2005-31, NLP2005-44 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.274(CAS), no.276(NLP) 
ページ範囲 pp.31-36 
ページ数
発行日 2005-09-08 (CAS, NLP) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会