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講演抄録/キーワード
講演名 2005-04-14 09:00
低電圧時の安定高速動作を実現するノイズマージンフリーSRAM技術
武田晃一萩原靖彦NEC)・相本代志治NECエレクトロニクス)・野村昌弘中澤陽悦NEC)・石井利生小畑弘之NECエレクトロニクスエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-1
抄録 (和) 今後の微細化に伴うバラツキの増大によって、SRAMの読み出しノイズマージンと書き込みマージンとが共に減少し、通常の電源電圧での安定動作すら困難な状況になりつつある。この問題を解決するために、小さい面積オーバーヘッドで、両立しない2つのマージンの一方の読み出しノイズマージンをフリーにするSRAM技術を開発した。90nm CMOSプロセスを用いて64Kb SRAMを試作して、0.44Vまでの安定動作と、0.5Vでの20ns動作を確認した。 
(英) A read-static-noise-margin-free SRAM cell consists of seven transistors, several of which are low-Vt NMOS transistors used to achieve both low-VDD and high-speed operation. A 64kb SRAM macro is fabricated in 90nm CMOS technology. Both a minimum VDD of 440mV and a 20ns access time with a 0.5V supply are obtained.
キーワード (和) SRAM / スタティックノイズマージン / 書き込みマージン / / / / /  
(英) SRAM / Static noise margin / Write margin / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 1, ICD2005-1, pp. 1-6, 2005年4月.
資料番号 ICD2005-1 
発行日 2005-04-07 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-1

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2005-04-14 - 2005-04-15 
開催地(和) 福岡システムLSI 総合開発センター 
開催地(英)  
テーマ(和) 新メモリ技術、メモリ応用技術、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-04-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 低電圧時の安定高速動作を実現するノイズマージンフリーSRAM技術 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Read-Static-Noise-Margin-Free SRAM cell for low-Vdd and High-speed applications 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SRAM / SRAM  
キーワード(2)(和/英) スタティックノイズマージン / Static noise margin  
キーワード(3)(和/英) 書き込みマージン / Write margin  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 武田 晃一 / Koichi Takeda / タケダ コウイチ
第1著者 所属(和/英) NEC (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 萩原 靖彦 / Yasuhiko Hagihara / ハギハラ ヤスヒコ
第2著者 所属(和/英) NEC (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 相本 代志治 / Yoshiharu Aimoto / アイモト ヨシハル
第3著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics (略称: NECEL)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 野村 昌弘 / Masahiro Nomura / ノムラ マサヒロ
第4著者 所属(和/英) NEC (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中澤 陽悦 / Yoetsu Nakazawa / ナカザワ ヨウエツ
第5著者 所属(和/英) NEC (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 石井 利生 / Toshio Ishii / イシイ トシオ
第6著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics (略称: NECEL)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 小畑 弘之 / Hiroyuki Kobatake / コバタケ ヒロユキ
第7著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics (略称: NECEL)
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講演者 第1著者 
発表日時 2005-04-14 09:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2005-1 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.1 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2005-04-07 (ICD) 


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