Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2015-16
BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法
○錦織 誠・山崎紘史・細川利典・新井雅之（日大）・吉村正義（京都産大）
pp. 1 - 6
DC2015-17
クリティカルエリアに基づくブリッジ故障テスト生成の高速化に関する一検討
○新井雅之（日大）・犬山慎吾・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 7 - 12
DC2015-18
レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
○宮瀬紘平（九工大）・ザウアー マティアス・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）
pp. 13 - 18
DC2015-19
ラッチを用いた非同期式パイプライン回路の機能テストに関する一検討
豊嶋太樹・寺山恭平・黒川 敦・○今井 雅（弘前大）
pp. 19 - 24
DC2015-20
マルチコアシステムにおける信頼度向上手法のマルコフモデルによる性能評価
○今井 雅（弘前大）・米田友洋（NII）
pp. 25 - 30
DC2015-21
ソフトウェアテスト用テストケース生成における2分決定図を用いた制約処理
○土屋達弘（阪大）
pp. 31 - 34
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．