電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 112, Number 61

機構デバイス

開催日 2012-05-25 / 発行日 2012-05-18

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目次

EMD2012-1
積層アルミニウム箔端の電磁圧接法
○相沢友勝(都立産技高専)
pp. 1 - 6

EMD2012-2
電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 ~ 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 ~
○吉田 清・澤 孝一郎(日本工大)・鈴木健司・代島英樹・高谷幸悦(富士電機機器制御)
pp. 7 - 12

EMD2012-3
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (21) ~
○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(日本工大)
pp. 13 - 18

EMD2012-4
Measurement of the Constriction Resistance in Palladium Contacts Heated by a Heater
Hiroyuki Ishida・○Hiromichi Kubota(Tohoku Bunka Gakuen Univ.)
pp. 19 - 22

EMD2012-5
BOFを用いた光ファイバセンサによる荷重測定
○長瀬 亮・八尾坂有輝・大槻崇文(千葉工大)
pp. 23 - 26

EMD2012-6
接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討(第2報)
○高橋佳佑・長谷川 誠(千歳科技大)
pp. 27 - 30

EMD2012-7
スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(第2報)
○川原宗貴・長谷川 誠(千歳科技大)
pp. 31 - 36

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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