Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2012-9
故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価
○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）
pp. 1 - 6
DC2012-10
組み込み遅延測定回路を用いた時分割オンチップパス遅延測定のための入力系列データ量削減の1手法
○加藤健太郎（鶴岡高専）
pp. 7 - 13
DC2012-11
高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察
○深澤祐樹・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 15 - 20
DC2012-12
［招待講演］シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み
○高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
pp. 21 - 26
DC2012-13
レイアウトを考慮したブリッジ/オープン故障カバレージの高精度見積法
○新井雅之・清水貴弘・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 27 - 32
DC2012-14
論理BISTの電力低減手法と評価
○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）
pp. 33 - 38
DC2012-15
On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing
○Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda・Kazumi Hatayama・Michiko Inoue（NAIST）
pp. 39 - 44
DC2012-16
リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討
○三宅庸資・笹川拓麿・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京）
pp. 45 - 50
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．