電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 111, Number 391

機構デバイス

開催日 2012-01-20 / 発行日 2012-01-13

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目次

EMD2011-112
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (20) ~
○和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(日本工大)
pp. 1 - 6

EMD2011-113
直流48V回路における開離時アークの移動範囲と接点表面の曲率半径との関係
○杉浦 徹・関川純哉・窪野隆能(静岡大)
pp. 7 - 12

EMD2011-114
開離時アーク後の接点表面状態と接触抵抗分布の接点開離速度依存性
○宮司勝吉・関川純哉・窪野隆能(静岡大)
pp. 13 - 18

EMD2011-115
定在波同軸管を用いたプリント基板の非接触PIM特性評価
○星野啓太・石橋大二郎・齋藤健介・久我宣裕(横浜国大)
pp. 19 - 24

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


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