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No 96674
標題(和) ライン過程を含むMRFのパラメ-タ推定
標題(英) Parmeter Estimation for Markov Random Image Fields with Line Processes
研究会名(和) 回路とシステム; ディジタル信号処理; 通信方式
研究会名(英) Circuits and Systems ; Degital Signal Processing ; Communication Systems
開催年月日 1998-03-05
終了年月日 1998-03-06
会議種別コード 2
共催団体名(和) 電気学会
資料番号 CAS97-113 // DSP97-184 // CS97-208
抄録(和) 本論文では,MRFを仮定したテクスチャ画像のモデリングにおいて,ライン過程を考慮した場合のポテンシャル関数中の未知パラメ-タの推定について考察する.ライン過程とは,画像の濃淡値の不連続性を表現する確率変数で,画像修復などの分野で取り入れられている.しかし,モデリングにおいてライン過程を導入した例は少なく,またパラメ-タの推定を行った文献も見うけられるが,うまく推定できた例は少ない.従来強度過程のみでの擬似対数尤度関数による最尤推定では,ある条件の下精度の高い推定値が得られている.そこで同様の方法で強度過程とライン過程のパラメ-タの推定を試みる.
抄録(英) In this paper, we consider parameter estimation and image synthesis associated with the Gibbs Distribution with line processes information. A probability mass function of the images modeled by Markov random field (MRF) is represented as Gibbs distribution. It contains local interaction functions defined on neighborhood random variables. But this function type represents the edges in the image smoothly. Hence, we define the functions involve the term of line proccess and the penalty given by line pixel value between the clique pair and estimate unknown parameter by maximum pseudo-likelihood estimation (MPL).
収録資料名(和) 電子情報通信学会技術研究報告
収録資料の巻号 Vol.97 No.580,581
ページ開始 17
ページ終了 22
キーワード(和) 擬似対数尤度関数
キーワード(英) pseudo-likelihood estimation
本文の言語 JPN
著者(和) 杉本末雄
著者(ヨミ) スギモトスエオ
著者(英) Sugimoto Sueo
所属機関(和) 立命館大学理工学部電気電子工学科
所属機関(英) Department of Electrical and Electronic Engineering, Ritsumeikan University
著者(和) 加藤伸也
著者(ヨミ) カトウシンヤ
著者(英) Kato Shinya
所属機関(和) 立命館大学理工学部電気電子工学科
所属機関(英) Department of Electrical and Electronic Engineering, Ritsumeikan University
著者(和) 藤山直之
著者(ヨミ) フジヤマナオユキ
著者(英) Fujiyama Naoyuki
所属機関(和) 立命館大学理工学部電気電子工学科
所属機関(英) Department of Electrical and Electronic Engineering, Ritsumeikan University

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