No |
24859 |
標題(和) |
FFT演算型Delay Profile測定装置の試作 |
標題(英) |
FFT-Correlator-Type Delay Profile Measuring Equipment |
研究会名(和) |
情報理論; 通信方式 |
研究会名(英) |
Information Theory; Communication Systems |
開催年月日 |
1988-01-27 |
終了年月日 |
1988-01-27 |
会議種別コード |
2 |
共催団体名(和) |
|
資料番号 |
IT87-101,CS87-135 |
抄録(和) |
相関演算にフ-リエ変換を用いるdelay profile測定装置の試作および計算機シミュレ-ションを行った。さらにDSK誤り率測定と同一コ-スでdelay profile測定を行った。その結果、4μsec以上の遅延波が観測され、直接波、反射波が同程度の強度となっている地点ではDSK誤り率の劣化との対応が見られた。 |
抄録(英) |
The severe multipath fading degrades the perfomance of high speed digital mobile radio due to the long delayed waves. Multipath delay characteristics is then necessary to analyze the bit error rate performance of digital mobile radio. The authors have made a proto-type delay profile measuring equipment which has the 0.5 micro-sec delay time resolution and 1 msec of fast profile measuring interval. This performance has gained by the method to sample the orthogonal coherent detector output of receiver directly at the rate of 4MHz and off-line profile calculation by using fast fourier transform. The test result has shown the good system performance as simulated by a computer and has clearly shown a weak component wave of more than 4 micro-secdelay time. |
収録資料名(和) |
電子情報通信学会技術研究報告 |
収録資料の巻号 |
IT87-90〜101 Vol.87,No.346 CS87-104〜135 Vol.87,No.347 |
ページ開始 |
67 |
ページ終了 |
72 |
キーワード(和) |
FFT |
キーワード(英) |
fast fourier transform |
本文の言語 |
JPN |
著者(和) |
吉田進 |
著者(ヨミ) |
ヨシダススム |
著者(英) |
Yoshida Susumu |
所属機関(和) |
京都大学工学部電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto Univ. |
著者(和) |
池上文夫 |
著者(ヨミ) |
イケガミフミオ |
著者(英) |
Ikegami Fumio |
所属機関(和) |
京都大学工学部電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto Univ. |
著者(和) |
菊間信良 |
著者(ヨミ) |
キクマノブヨシ |
著者(英) |
Kikuma Nobuyoshi |
所属機関(和) |
京都大学工学部電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto Univ. |
著者(和) |
竹内勉 |
著者(ヨミ) |
タケウチツトム |
著者(英) |
Takeuchi Tsutomu |
所属機関(和) |
京都大学工学部電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto Univ. |
著者(和) |
柳澤玲互 |
著者(ヨミ) |
ヤナギサワリョウゴ |
著者(英) |
Yanagisawa Ryogo |
所属機関(和) |
京都大学工学部電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto Univ. |