| No | 24856 |
|---|---|
| 標題（和） | DSK誤り率特性の移動実験結果 |
| 標題（英） | Field Measurement of BER Performance of DSK in Mobile Radio Environments |
| 研究会名（和） | 情報理論; 通信方式 |
| 研究会名（英） | Information Theory; Communication Systems |
| 開催年月日 | 1988-01-27 |
| 終了年月日 | 1988-01-27 |
| 会議種別コード | 2 |
| 共催団体名（和） | |
| 資料番号 | IT87-98,CS87-132 |
| 抄録（和） | 耐多重波変調方式DSKの移動実験を、NTT京都南局周辺及び京都大学周辺において行った。その結果、128kbpsではDSKによる誤り率の改善効果が得られた。また、フロア誤りの主要因はアイの横ゆらぎに伴う再生クロックの同期はずれによるものであり、この同期はずれの頻度はBPSKに比べDSKの方が少なく、DSKの耐多重波性が確認された。 |
| 抄録（英） | ABSTRACT This paper reports the results of field test as stated below. We carried out the field mobile experiments on bit error rate (BER) performance of the modulation technique named DSK around NTT Kyoto South Telephone Office in order to assure its validity for use in multipath environments. Furthermore, we measured around Kyoto University the BER for different levels of transmitting power and the phase fluctuation of the clock recovery circuit in the receiver to clarify the more detailed BER performance. The results show that DSK using the bit rate of 128 kbps has an improvement in the BER performance. It is already reported that, in both DSK and BPSK, serious degradation of BER leading to error floor is mainly due to cycle slip in the clock recovery circuit in multipath fading environments. DSK has less cycle slip than BPSK, which results in the superiority of DSK to BPSK in anti-multipath characteristics. |
| 収録資料名（和） | 電子情報通信学会技術研究報告 |
| 収録資料の巻号 | IT87-90〜101 Vol.87,No.346 CS87-104〜135 Vol.87,No.347 |
| ページ開始 | 49 |
| ページ終了 | 54 |
| キーワード（和） | 同期はずれ |
| キーワード（英） | cycle slip |
| 本文の言語 | JPN |
| 著者（和） | 池上文夫 |
| 著者（ヨミ） | イケガミフミオ |
| 著者（英） | Ikegami Fumio |
| 所属機関（和） | 京都大学工学部電子工学科 |
| 所属機関（英） | Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto University |
| 著者（和） | 菊間信良 |
| 著者（ヨミ） | キクマノブヨシ |
| 著者（英） | Kikuma Nobuyoshi |
| 所属機関（和） | 京都大学工学部電子工学科 |
| 所属機関（英） | Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto University |
| 著者（和） | Sirikiat,Ariyavisitakul |
| 著者（ヨミ） | |
| 著者（英） | |
| 所属機関（和） | 京都大学工学部電子工学科 |
| 所属機関（英） | Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto University |
| 著者（和） | 吉田進 |
| 著者（ヨミ） | ヨシダススム |
| 著者（英） | Yoshida Susumu |
| 所属機関（和） | 京都大学工学部電子工学科 |
| 所属機関（英） | Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto University |
| 著者（和） | 竹内勉 |
| 著者（ヨミ） | タケウチツトム |
| 著者（英） | Takeuchi Tsutomu |
| 所属機関（和） | 京都大学工学部電子工学科 |
| 所属機関（英） | Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto University |
| 著者（和） | 北川剛 |
| 著者（ヨミ） | キタガワツヨシ |
| 著者（英） | Kitagawa Tuyoshi |
| 所属機関（和） | 京都大学工学部電子工学科 |
| 所属機関（英） | Department of Electronics, Faculty of Engineering, Kyoto University |