| No | 115842 |
|---|---|
| 標題（和） | 入力バッファ型ATMスイッチにおけるセル廃棄過程のシミュレーションによる検討 |
| 標題（英） | Simulation Studies on Cell Discard Process for Input-Buffered ATM Switch |
| 研究会名（和） | 通信方式; 画像工学 |
| 研究会名（英） | Communication Systems; Image Engineering |
| 開催年月日 | 1999-12-16 |
| 終了年月日 | 1999-12-17 |
| 会議種別コード | 2 |
| 共催団体名（和） | 情報処理学会 |
| 資料番号 | CS99-127,IE99-107 |
| 抄録（和） | ATMスイッチのセル廃棄過程のモデルとして、従来は廃棄連続のみに着目した近似モデルである2状態のギルバードモデルが提案されていた。本稿では、入力バッファ型ATMスイッチに関するセル廃棄過程のシミュレーションを行い、廃棄連続および廃棄間隔の両者を総合的に考慮した一層近似度の高いセル廃棄過程のモデルとして、IPPモデルおよび3状態のフリッチマンモデルが適用可能であることを示した。 |
| 抄録（英） | In the previous works, the cell loss process in ATM switches was approximately modeled by a Gilbert Model with 2 states taking account only of cell loss runs. This paper presents more accurate cell loss process models based on the simulated cell discard process due to buffer overflow in an input-buffered ATM switch. The proposed cell discard process models are an IPP Model and a Fritchman Model with 3 states. These models are introduced taking account of the aggregated performance of cell loss runs and cell loss free runs. The simulation results shows that the proposed models are useful. |
| 収録資料名（和） | 電子情報通信学会技術研究報告 |
| 収録資料の巻号 | Vol.99 No.510,511,512,513 |
| ページ開始 | 1 |
| ページ終了 | 6 |
| キーワード（和） | IPPモデル |
| キーワード（英） | IPP Model |
| 本文の言語 | JPN |
| 著者（和） | 北見徳廣 |
| 著者（ヨミ） | キタミトクヒロ |
| 著者（英） | Kitami Tokuhiro |
| 所属機関（和） | 明治大学理工学部電子通信工学科 |
| 所属機関（英） | Dept. of Electro. and Commun., Meiji University |
| 著者（和） | 川原山和浩 |
| 著者（ヨミ） | カワハラヤマカズヒロ |
| 著者（英） | Kawaharayama Kazuhiro |
| 所属機関（和） | 明治大学理工学部電子通信工学科 |
| 所属機関（英） | Dept. of Electro. and Commun., Meiji University |