No |
115840 |
標題(和) |
任意形状領域分割法を導入した雑音除去ウィナーフィルタ |
標題(英) |
Noise removal Wiener filter for images with arbitrary shaped segmentation |
研究会名(和) |
通信方式; 画像工学 |
研究会名(英) |
Communication Systems; Image Engineering |
開催年月日 |
1999-12-16 |
終了年月日 |
1999-12-17 |
会議種別コード |
2 |
共催団体名(和) |
情報処理学会 |
資料番号 |
CS99-125,IE99-105 |
抄録(和) |
本論文では,ガウス混成モデル基づく雑音除去ウィナーフィルタ(WF)の高雑音下における復元能力の改善法を提案する.このWF法では,任意形状ブロック内の信号列を観測して有限個のガウス定常過程に分類し,各過程毎にWFを適応させる.高雑音化ではフィルタサポートサイズを大きくする必要があるが,隣り合うブロック間の統計量が大きく異なる場合,フィルタサポートが,ブロック外の性質の異なる画素を参照するため復元能力が低下する.提案法では,ブロックの統計量の検出を,近隣する画素を含めて行うことにより,フィルタサポート信号として外部の不整合画素が用いられることを防止する.シミュレーション実験により提案法の有効性を明らかにする. |
抄録(英) |
In Wiener filter method based on the Gaussian mixture distribution model, image signals in arbitrary shaped blocks are observed to be classified into finite number of Gaussian processes to adapt WF to local variation of image statistics. In this paper, a performance improvement in this method is proposed in the case of large noise variance. In this case, required size of the filter support becomes large and outer block pixels that have different statistics are used as filter support signals. In the proposed method, the outer block pixels are included in the observation to prevent using the outer pixels that have different statistics as filter support signals. A simulation result shows that the filter performance is improved with the proposed method. |
収録資料名(和) |
電子情報通信学会技術研究報告 |
収録資料の巻号 |
Vol.99 No.510,511,512,513 |
ページ開始 |
99 |
ページ終了 |
104 |
キーワード(和) |
観測誤差 |
キーワード(英) |
observation error |
本文の言語 |
JPN |
著者(和) |
森川良孝 |
著者(ヨミ) |
モリカワヨシタカ |
著者(英) |
Morikawa Yoshitaka |
所属機関(和) |
岡山大学工学部電気電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Okayama University |
著者(和) |
山根延元 |
著者(ヨミ) |
ヤマネノブモト |
著者(英) |
Yamane Nobumoto |
所属機関(和) |
岡山大学工学部電気電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Okayama University |
著者(和) |
川上洋一 |
著者(ヨミ) |
カワカミヨウイチ |
著者(英) |
Kawakami Youichi |
所属機関(和) |
岡山大学工学部電気電子工学科 |
所属機関(英) |
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Okayama University |